このウィッシュリストリクエストのきっかけは何ですか?
目標は、FDE プラットフォームでピークを見つけるための検索領域を定義することです。
どのバッチに特定の材料が含まれているかを調べたい場合は、スペクトル内の異なる特定の位置にあるピークを検索する必要があります。
したがって、ピークを見つけるために複数の X 範囲を定義できるようにすることが要求されます。
希望する新しい機能や改善された機能、またはソリューションについて説明してください。
最初のアイデアは、X 軸をフィルターすることです。ただし、FDE プラットフォームではそれは不可能です。唯一の可能性は、X の範囲を維持することです。
そのため、ユーザーは事前にデータをフィルタリングする必要があり、複雑な手順が追加されます。
もう 1 つのアイデアとしては、自動ピーク検出アルゴリズムにいくつかのオプションを設けて、複数の場所を指定するというものがあります。
この新しい機能が提供されると、あなたや他のユーザーにとってどのような価値が生まれるでしょうか?
より簡単かつ時間を節約できます。
データの準備ではなく分析に集中できるようになります。
これは外部顧客からのリクエストですか?
グルノーブルの ST Microelectronics、パッケージ組み立てチーム。
私たちが知っておくべきこの機能またはソリューションを備えた競合ソフトウェア パッケージはありますか?
分からない
これは顧客での更新、拡張、または採用に影響しますか? また、これに対処しないとアカウントが危険にさらされますか?
ST MicroによるJMP Proの採用に役立つだろう
