Cosa ha ispirato questa richiesta di lista dei desideri?
L'obiettivo è definire un'area di ricerca per la ricerca dei picchi nella piattaforma FDE.
Se vuoi scoprire quali lotti contengono materiale specifico, devi cercare i picchi in diverse posizioni specifiche nel tuo spettro.
Quindi la richiesta è quella di poter definire diversi intervalli X per la ricerca dei picchi.
Descrivi la funzionalità o la soluzione nuova o migliorata che vorresti vedere.
La prima idea sarebbe quella di filtrare l'asse X. Ma nella piattaforma FDE ciò non sarà possibile. l'unica possibilità è mantenere un intervallo di X.
Quindi l'utente deve filtrare preventivamente i dati e aggiungere passaggi complessi.
Un'altra idea sarebbe quella di avere qualche opzione nell'algoritmo di rilevamento automatico dei picchi, per specificare diverse posizioni.
Quale sarebbe il valore per te e/o per gli altri utenti se venisse fornita questa nuova funzionalità?
Più semplice e fa risparmiare tempo.
Essere in grado di concentrarsi sull'analisi e non sulla preparazione dei dati.
Si tratta di una richiesta di un cliente esterno?
ST Microelectronics a Grenoble, squadra di assemblaggio dei pacchetti.
Esiste un pacchetto software competitivo dotato di questa funzionalità o soluzione di cui dovremmo essere a conoscenza?
Nessuna idea
Ciò avrà un impatto sul rinnovo, sull'espansione o sull'adozione da parte di un cliente e metterà a rischio l'account se non affrontiamo questo problema?
aiuterà l'adozione di JMP Pro da parte di ST Micro
