Was hat Sie zu dieser Wunschlistenanfrage inspiriert?
Das Ziel besteht darin, einige Suchbereiche für die Peak-Suche in der FDE-Plattform zu definieren.
Wenn Sie herausfinden möchten, welche Chargen ein bestimmtes Material enthalten, müssen Sie in Ihrem Spektrum an verschiedenen spezifischen Stellen nach Spitzen suchen.
Die Anforderung besteht also darin, mehrere X-Bereiche für die Spitzensuche definieren zu können.
Bitte beschreiben Sie die neue oder verbesserte Funktion oder Lösung, die Sie gerne sehen würden.
Die erste Idee wäre, die X-Achse zu filtern. Auf der FDE-Plattform ist dies jedoch nicht möglich. Die einzige Möglichkeit besteht darin, einen X-Bereich beizubehalten.
Der Benutzer muss die Daten also vorher filtern, was komplexe Schritte mit sich bringt.
Eine weitere Idee wäre, im Algorithmus zur automatischen Spitzenerkennung eine Option zur Angabe mehrerer Standorte einzubauen.
Welchen Wert hätte die Bereitstellung dieser neuen Funktion für Sie und/oder andere Benutzer?
Einfacher und zeitsparend.
Konzentrieren Sie sich auf die Analyse und nicht auf die Datenaufbereitung.
Handelt es sich hierbei um eine externe Kundenanfrage?
ST Microelectronics in Grenoble, Paketmontageteam.
Gibt es ein Konkurrenzsoftwarepaket mit dieser Funktion oder Lösung, das wir kennen sollten?
Keine Ahnung
Wird dies Auswirkungen auf eine Erneuerung, Erweiterung oder Einführung bei einem Kunden haben und wird ein Konto gefährdet, wenn wir dies nicht berücksichtigen?
Es wird die Einführung von JMP Pro durch ST Micro erleichtern
