Qu'est-ce qui a inspiré cette demande de liste de souhaits ?
L'objectif est de définir une zone de recherche de pics dans la plateforme FDE.
Si vous souhaitez savoir quels lots contiennent un matériau spécifique, vous devez rechercher des pics à différents emplacements spécifiques de votre spectre.
La demande est donc de pouvoir définir plusieurs plages X pour la recherche de pics.
Veuillez décrire la fonctionnalité ou la solution nouvelle ou améliorée que vous souhaiteriez voir.
La première idée serait de filtrer l'axe X. Mais sur la plateforme FDE, cela ne sera pas possible. la seule possibilité est de conserver une plage de X.
L'utilisateur doit donc filtrer au préalable les données et cela ajoute des étapes complexes.
Une autre idée serait d'avoir une option dans l'algorithme de détection automatique des pics, pour spécifier plusieurs emplacements.
Quelle serait la valeur pour vous et/ou pour les autres utilisateurs si cette nouvelle fonctionnalité était fournie ?
Plus facile et gain de temps.
Être capable de se concentrer sur l’analyse et non sur la préparation des données.
S'agit-il d'une demande d'un client externe ?
ST Microelectronics à Grenoble, équipe assemblage de boîtiers.
Existe-t-il un progiciel concurrent doté de cette fonctionnalité ou de cette solution dont nous devrions être conscients ?
Aucune idée
Cela aura-t-il un impact sur le renouvellement, l'expansion ou l'adoption chez un client, et cela met-il un compte en danger si nous ne résolvons pas ce problème ?
cela facilitera l'adoption de JMP Pro par ST Micro
