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如何依變數對相關圖進行分組/分隔？

以下是與我的實際數據案例類似的範例。我有興趣查看兩個已知相互依賴的過程變數之間的相關性。特別是，我想了解相關性的晶圓數量依賴性。

對於我的實際資料情況，與此處的範例情況不同，x 軸變數在晶圓編號上是雙峰的（首先說n 個晶圓位於一種模式，其餘的位於另一種模式）。

如何最好地分析資料以了解兩個變數之間在晶圓數量基礎上是否存在統計上顯著的相關性？

Names Default To Here(1);
clear log ();
dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
Bivariate( Y( :PNP1 ), X( :PNP2), Fit Line( {Line Color( {212, 73, 88} )} ) );

我承認，我處理這個問題的方法可能不是解決這個問題的最佳方法，因此歡迎使用替代方法，但我希望一開始就保持分析簡單，除非不可避免，否則不要進行深入的統計。

自動化和腳本編寫品質和工藝工程回覆：如何依變數對相關圖進行分組/分隔？

嗨@Neo ，

如果我很了解您的問題，您可能會對回應篩選平台（jmp.com）感興趣。

您想要分別檢查所有晶圓的 PNP1 和 PNP2 之間是否有顯著相關性：

1. 啟動回應篩選平台，將「PNP1」指定為 Y，將「PNP2」指定為 X，並將 WaferID 指定為分組變數：
   

2. 然後你就得到了平台提供的結果，你可以按 pvalue、效應大小、Rsquare 排序...

   

   透過右鍵單擊結果，然後選擇“建立組合資料表”，您可以將結果匯出到 JMP 資料表中，並根據需要進一步/以不同方式處理結果。

Names Default To Here(1);
clear log ();
dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

// Launch platform: Response Screening Data Table( "Semiconductor Capability" ) << Response Screening( Y( :PNP2 ), X( :PNP1 ), Grouping( :Wafer ID in lot ID ), PValues Table on Launch( 0 ) );

另一種選擇可能是查看與多元平台的相關性。

在「按」變數中指定變數和晶圓 ID，您可以查看每個晶圓的相關性，和/或右鍵單擊相關性值，「建立組合資料表」以匯出資料表並對其進行處理：

它滿足您的需求還是我理解您的主題？

回覆：如何依變數對相關圖進行分組/分隔？

@Victor_G感謝您的建議。

透過響應篩選平台，對於我的實際數據案例，除了通過繪製箱線圖趨勢（兩個變量一個在另一個之上）而獲得的信息之外，我似乎沒有獲得任何其他信息，即我的雙模態變數的每種模式都很好地相關由於因變數符合預期，或者換句話說，這兩個參數都依賴於晶圓數量。但這是針對小數據集的。

對於非常大的資料集，我希望 JMP 告訴我預期的相關性是否存在，因為它在視覺上不再明顯。也許我需要了解 JMP 在過程篩選平台中輸出的各種數字是什麼。但以晶圓數量繪製它們顯示了與箱線圖相同的趨勢。我會嘗試理解這些數字——無論如何，工作正在進行中。

我已經看過相關矩陣，不幸的是它不是我正在尋找的。

透過擬合模型進行因子分析對我的情況有幫助嗎？