Costruire un modello per prevedere i difetti dei wafer dai dati di testoCiao gruppo,
Un cliente mi chiede se è possibile creare un modello predittivo per prevedere i difetti sul bordo dei wafer, quando i dati dei wafer sono in formato testo? L'obiettivo è utilizzare questo modello per ottimizzare le impostazioni dei parametri per ridurre al minimo questi difetti dei bordi.
Mi chiedevo se qualcuno si è già imbattuto in questo problema perché immagino che potrebbe essere un problema comune. Ho allegato un esempio della mappa wafer dei dati di testo qui.
Ogni aiuto o consiglio sarebbe apprezzato! grazie in anticipo
Re: Creazione di un modello per prevedere i difetti dei wafer dai dati di testo@Chris_Kirchberg e io abbiamo provato a fare esattamente questo con i dati di Kaggle/GitHub (punto 9 nel Torch Storybook di @russ_wolfinger ). In tal caso, le mappe sembrano simili ma sono valori individuali in un frame di dati Panda. L'idea è semplice, trasformare i valori dei caratteri in una matrice di valori numerici, quindi utilizzare JSL per convertire la matrice in un'immagine. Ho adattato il codice per funzionare con un singolo file e produrre una finestra con l'immagine. Sospetto che vorrai elaborare un gruppo di singoli file e fare qualcosa come memorizzare le immagini in una colonna della tabella dati JMP. Si spera che il codice possa essere facilmente adattato a questo scopo. Ho fatto alcune ipotesi basate sul file nel tuo post (ad esempio, le righe di intestazione e piè di pagina da rimuovere, il punto (.) che rappresenta l'area esterna al wafer, X come difetto, ecc.). L'altro potenziale problema potrebbe essere ciò che viene utilizzato come sequenza EOL. L'ho fatto su un Mac, quindi era solo newline (\!n). Potrebbe essere necessario utilizzare una sequenza diversa su Windows. C'è una costante di ridimensionamento nella parte superiore dello script per ingrandire o ridurre l'immagine (utilizzata nella funzione Scale JSL verso la fine). Ho commentato il codice in modo piuttosto approfondito, ma se tu (o chiunque altro) avete domande, fatemelo sapere.
Re: Creazione di un modello per prevedere i difetti dei wafer dai dati di testo@Owen_Jonathan ,
Volevo menzionare che @Chunwei_Ma sta attualmente lavorando alla segmentazione delle immagini per il componente aggiuntivo Torch, che fornirà previsioni per i singoli pixel in immagini come questa e potrebbe essere proprio ciò che il cliente desidera per i difetti dei bordi.
Se il problema può essere formulato per prevedere uno o più numeri o categorie per l'intera mappa (ad esempio il numero totale di difetti dei bordi), Torch può farlo subito come negli esempi del Torch Storybook.
Per creare le immagini di input mi piace l'approccio di @DonMcCormack e @Chris_Kirchberg .. Come possibile alternativa potrebbe funzionare quanto segue:
- Dividi le stringhe in una colonna separata per ciascun carattere utilizzando uno script di TX Nelson e ricodificale in 0, 1, 2 tramite Cols > Standardize Attributes.
- Crea un indicatore di riga numerico e rimuovi la formula dopo averla creata.
- Impila i dati e analizza la colonna Label per creare una variabile Col numerica
- Traccia riga e colonna nel Costruttore di grafici e Colora in base ai dati (tre livelli distinti)
- Triangolo rosso del Costruttore di grafici > Salva nella tabella dati per ottenere una singola cella immagine.
Sembra che funzionerebbe su più mappe nella stessa tabella utilizzando un'altra variabile che indica ciascuna mappa e quindi trasformandola in un Wrap in Graph Builder. La colonna di immagini finale con tutte le mappe è quindi pronta per la classificazione o la segmentazione delle immagini (disponibile a breve) in Torch.
Re: Creazione di un modello per prevedere i difetti dei wafer dai dati di testo@russ_wolfinger @DonMcCormack
Grazie ad entrambi per le rapide risposte! Felice di vedere un angolo Pro qui.
Proverò entrambi gli approcci. Vi terrò aggiornati entrambi per qualsiasi domanda.
Re: Creazione di un modello per prevedere i difetti dei wafer dai dati di testoDomanda casuale al riguardo: quanti anni ha l'apparecchiatura che genera i dati?
Mi chiedo se non ci sia un modo per estrarlo da un database di fabbrica in modo che arrivi in JMP in un formato più semplice. Ad esempio, se potessi ottenere i dati come colonne di "Die X, Di Y, P/F, WaferID", potresti utilizzare il generatore di grafici per generare le immagini e quindi fare in modo che il generatore di grafici le invii direttamente a una tabella di dati JMP. Sarebbero quindi nel formato corretto per Torch senza preoccuparsi di un mucchio di file di testo.
Re: Creazione di un modello per prevedere i difetti dei wafer dai dati di testoSì, ciò ha portato ad alcune discussioni interne sulla qualità dei dati. Sembra che si tratti di un problema interno con cui il cliente è attualmente legato.
