Referentin: Laura A. Higgins, JMP Global Technical Engineer
Vortragsthema : So verwenden Sie die Plattform „Exploration Mode“ in JMP15, um abnormale Daten schnell zu untersuchen
Zusammenfassung der Rede:
Wenn sich Ingenieure und Analysten mit praktischen Problemen befassen, stoßen sie häufig auf große Mengen abnormaler Daten, die in riesigen Datentabellen „lauern“ und nicht leicht zu erkennen sind, oder sie wissen nicht, wie sie mit solch kniffligen Daten umgehen sollen. Zum Beispiel Daten von Lieferanten, unbeaufsichtigte Daten (z. B. Daten aus klinischen Studien) usw. Explore Pattern ist eine neue Datenverarbeitungsplattform in JMP15. Sie untersucht die Integrität der Daten, indem sie nach abnormalen Mustern in den Daten sucht. Zum Beispiel: wiederholte Daten, Zufallszahlen, lineare Beziehungen zwischen Spalten, Übereinstimmung mit Spezifikationsgrenzen und Verteilungen. Laura sagte, dass diese abnormalen Daten häufig durch die folgenden vier Situationen generiert werden: Kopieren und Einfügen, Anwenden von Zufallsvariablen zum Generieren von Daten, Verwenden von Formeln zwischen Spalten zum Erstellen linearer Beziehungen, Ändern oder Abschneiden von Daten außerhalb der Spezifikationsgrenzen und rund um diese vier Ausnahmen Datentypen zeigen jeweils, wie diese abnormalen Daten in JMP identifiziert werden.
