JMP Pro 18 结构方程模型平台概览JMP的发布® Pro 18 终于来了！结构方程模型 (SEM) 平台具有各种新功能，肯定会满足那些拥有非正态数据（强大的标准误差校正和平台范围引导程序！）以及希望通过新模型快捷方式加快分析速度的人的需求（谁说测量不变性？）。
自从在 JMP 15 中引入 SEM 平台以来，我们积累了众多功能，使用户能够完成各种复杂的工作。这篇文章的目标是向 SEM 研究人员提供 JMP Pro 提供的所有功能的完整概览。观看下面的短视频进行视觉导览，或继续阅读以了解最新的 SEM 功能是否完全或部分满足您的需求。
扫描电镜特点
- 该平台可以使用原始数据或预先汇总的数据（相关或协方差矩阵）启动。还支持频率变量进行分析，以及用于多组分析的分组变量。
- 均值结构始终包含在模型中。这使用户能够进行所有类型的 SEM 分析，包括验证性因子分析、路径模型（有或没有潜在变量）、潜在增长曲线、潜在变量均值差异的多组分析等。
- 最大似然是 SEM 平台中使用的估计器。当检测到缺失数据时，平台会自动使用完整信息最大似然。
- 稳健的标准误差校正和总体测试校正可用于非正态数据，报告中可用的任何统计数据的引导程序（包括 Bollen-Stine 引导程序）也是如此。
- 交互式模型规范对于效率来说是最方便的，但如果需要，可以编写脚本来执行或复制分析。 JMP Workflow Builder 记录您的所有步骤，从数据操作到可视化和分析，以实现完全可复制和共享。
- 对模型进行任何修改时都会提供动态用户反馈，使用户能够在模型拟合之前识别模型规范、估计或其数据的潜在问题。
- 包含众多模型快捷方式的菜单可用于快速轻松地拟合常见模型。
- 提供了模型比较表，其中包含同一报告中拟合的所有模型的拟合统计数据。该表是交互式的，可以现场进行卡方差异测试。在请求模型比较时，会执行识别嵌套模型的算法（Bentler & Satorra，2010），然后在模型未嵌套时向用户发出警报。
- 每个拟合模型均可提供所有标准输出，包括拟合指数、非标准化和标准化估计值、总体效应、间接效应、模型隐含矩阵、标准化残差、观测残差、预测值、估计值的协方差、内生变量的 R 平方、修正指数、瑟斯顿和巴特利特因子得分等。
- 测量模型包括一个仪表板，可帮助评估结构的可靠性和有效性证据。该仪表板中的统计数据包括指标可靠性、构造和综合可靠性（系数 Omega 和 H），以及提取平均方差的构造有效性矩阵，以及潜在变量和指标方差的重叠。
- JMP 的目标是对每项统计数据进行可视化。根据这一设计原则，SEM 平台在适当的情况下具有热图、条形图、箱线图、意大利面图和双变量图。
- 尖端算法依赖于具有数十年经验的开发人员的统计计算专业知识，使模型拟合快速高效。
- 可以复制和粘贴高质量的矢量化图像以在演示文稿和出版物中使用，包括完全交互式和可定制的路径图。
- 路径图在其节点和边中编码信息；边缘的厚度、样式和透明度可以映射到效果大小和统计测试，R 方值是节点内的阴影区域。
- 本地数据过滤器会立即将 SEM 报告转换为交互式仪表板，显示样本选定特征的结果。在这里，我们可以看到，选择“女性”或“男性”会无缝更新报告，以显示针对这些特定观察结果的模型结果。
- 探索离群值和缺失值模式可以通过主菜单轻松完成，该菜单启动其他 JMP 平台，并具有自己的探索数据功能。
- SEM 软件中常见的其他统计技术包括潜在类别分析和潜在概况分析。这些以及许多其他多变量和单变量技术在 JMP Pro 中拥有自己的平台，并且可以在“分析”菜单下使用。
SEM 平台在 JMP® Pro 15 中引入后不断成熟。
高级统计建模消费者和市场研究
