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ライブコース - JMP: 測定システム分析

3日間コース

7 月 11 日火曜日 | 午前 9:00 ～ 午後 12:30 (東部標準時)

7月12日水曜日 | 午前9時～午後12時30分（東部標準時）

7月13日木曜日 | 午前9時～午後12時30分（東部標準時）

このコースでは、JMP ソフトウェアを使用して、測定システムの変動性とバイアスの両方を含む、プロセスに関連する測定エラーを決定する方法を学習します。

やり方を学ぶ：

• 測定の変動について説明します。
• 測定システムのバイアスと変動性の両方を推定するための研究を設計します。
• 繰り返し性と再現性を推定します。
• グラフィカル分析を使用して測定誤差を理解します。
• バイアスと直線性を推定します。
• 属性ゲージ調査を実行します。

期間:半日セッション3回

登録料： 300ドル

詳細と登録については、 JMP®: 測定システム分析をご覧ください。

高度な統計モデリング