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现场课程 - JMP：测量系统分析

3天课程

7 月 11 日星期二 | 美国东部时间上午 9:00 - 下午 12:30

7 月 12 日星期三 | 美国东部时间上午 9:00 - 下午 12:30

7 月 13 日星期四 | 美国东部时间上午 9:00 - 下午 12:30

本课程教您如何使用 JMP 软件确定与您的过程相关的测量误差，包括测量系统变异性和偏差。

了解如何：

• 描述测量变化。
• 设计研究来估计测量系统的偏差和变异性。
• 评估重复性和再现性。
• 使用图形分析来了解测量误差。
• 估计偏差和线性。
• 执行属性量表研究。

持续时间： 3 个半天会议

注册费用： 300美元

在JMP®：测量系统分析了解更多信息并注册。

高级统计建模