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Cours en direct - JMP : Analyse des systèmes de mesure

Cours de 3 jours

Mardi 11 juillet | 9h00 à 12h30 HE

Mercredi 12 juillet | 9h00 à 12h30 HE

Jeudi 13 juillet | 9h00 à 12h30 HE

Ce cours vous apprend à déterminer l'erreur de mesure associée à votre processus, y compris la variabilité et le biais du système de mesure, à l'aide du logiciel JMP.

Apprendre à:

• Décrire la variation des mesures.
• Concevoir des études pour estimer à la fois le biais et la variabilité d'un système de mesure.
• Estimer la répétabilité et la reproductibilité.
• Utilisez l’analyse graphique pour comprendre l’erreur de mesure.
• Biais d’estimation et linéarité.
• Effectuer des études de jauge d'attributs.

Durée : 3 séances d'une demi-journée

Frais d'inscription: 300 $ US

Apprenez-en davantage et inscrivez-vous sur JMP® : Analyse des systèmes de mesure .

Modélisation statistique avancée