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Live-Kurs - JMP: Messsystemanalyse

3-Tages-Kurs

Dienstag, 11. Juli | 9:00 - 12:30 Uhr ET

Mittwoch, 12. Juli | 9:00 - 12:30 Uhr ET

Donnerstag, 13. Juli | 9:00 - 12:30 Uhr ET

In diesem Kurs erfahren Sie, wie Sie mithilfe der JMP-Software den mit Ihrem Prozess verbundenen Messfehler ermitteln, einschließlich der Variabilität und Verzerrung des Messsystems.

Lernen wie man:

• Beschreiben Sie die Messvariation.
• Entwerfen Sie Studien, um sowohl die Verzerrung als auch die Variabilität eines Messsystems abzuschätzen.
• Schätzen Sie Wiederholbarkeit und Reproduzierbarkeit.
• Verwenden Sie grafische Analysen, um Messfehler zu verstehen.
• Schätzen Sie Verzerrung und Linearität ab.
• Führen Sie Attributmessstudien durch.

Dauer: 3 Halbtageseinheiten

Registrierungsgebühr: 300 US-Dollar

Erfahren Sie mehr und registrieren Sie sich unter JMP®: Messsystemanalyse .

Erweiterte statistische Modellierung