안녕하세요,
고객이 JMP를 사용하여 활성화 에너지를 추정하는 방법에 대한 안내를 받고 싶어합니다.
Arrenius 모델에 따른 전류 계수. 이 고객은 이전에 이 목적으로 Reliasoft ALTA를 사용하고 있었습니다. 이번 주말까지 답변을 주시면 좋을 것 같습니다 
미리 감사드립니다.
건배,
발레리
안녕하세요 여러분,
감사합니다 - 또 다른 질문:
반도체 레이저의 마모 수명을 보고할 때 사용하는 그래프 종류는 다음과 같습니다.
사용 조건에서의 분포도.
질문 1 : "Fit Life by X"에서 - 모델의 활성화 에너지를 사용하여 모든 고장 시간을 다시 계산할 수 있나요?
분포도를 생성하기 위한 일반적인 사용 조건(데이터가 포함된 새 열을 생성해야 함)에 적용됩니다(아래 예 참조).
JMP에서 쉽게 접근할 수 있나요?
Reliasoft ALTA에서는 일반적으로 다음과 같습니다. ALTA의 좋은 기능은 단위(시간/일/년)를 선택할 수 있다는 것입니다.
제시된 시간 규모. 가속 수명은 일반적으로 시간 단위로 측정되지만 사용 조건에서의 수명은
몇 년 안에 더 흥미로워집니다.
가속 수명 테스트는 일반적으로 여러 온도와 전류로 구성됩니다.
실패까지의 시간 ~ I^N*exp (Ea/(Kb*T))
어디
나는 현재
N은 현재 지수입니다.
T는 온도(K)입니다.
문헌에 보고된 전류 계수(N)는 반도체 레이저의 경우 2~4 범위에 있습니다.
질문 2: JMP는 N을 추정할 수 있나요?
ALTA에서는 "Arrenius" 모델 또는 "온도-비열" 모델 중에서 선택할 수 있습니다.
그러면 신뢰 한계를 포함하여 Ea, N, 시그마, μ를 포함하는 테이블이 제공됩니다.
이 네 가지 매개변수는 일반적으로 고객에게 제공되는 신뢰성 보고서에 포함됩니다.
실제로 최종 분석에서 TTF에 대한 보다 신뢰할 수 있는 예측을 얻기 위해 N=2를 "잠금"으로 선택하는 경우가 많지만 저는 항상 이렇게 하고 싶습니다.
새로운 레이저 양자 우물과 재료 설계가 N~2를 표시하는지 확인하기 위해 전체 모델을 실행합니다.
예를 들어, 다음은 다양한 스트레스 그룹에 대한 평균 고장 시간입니다(데이터는 더 이상 시장에 나와 있지 않은 오래된 제품에서 가져온 것입니다).
"수정된 TTF"를 계산할 필요 없이 표 아래의 분포도 그래프를 얻을 수 있다면 시간이 절약될 것입니다.
일반 전류(7mA) 및 온도(371K)에서. 실제 분석에서 분포도에는 각 그룹의 중앙값 TTF가 아닌 테스트 중인 모든 레이저가 포함됩니다.
