你好呀，
客户希望获得有关如何使用 JMP 估算活化能的一些指导
和根据 Arrenius 模型的电流系数。该客户之前曾使用 Reliasoft ALTA 来实现此目的。如果能在本周结束之前得到答案就太好了:)
提前致谢，
干杯，
瓦莱丽
大家好，
谢谢-另一个问题：
我们在报告半导体激光器的磨损寿命时使用的图表是
使用条件下的分布图。
问题 1 ：来自“Fit Life by X” - 我可以使用模型中的活化能来重新计算所有故障时间
典型的使用条件（需要生成一个新的数据列）来生成分布图（参见下面的示例）。
在 JMP 中可以轻松访问吗？
在 Reliasoft ALTA 中通常看起来像这样。 ALTA 中的一个很好的功能是您可以选择单位（小时/天/年）
所提出的时间尺度。加速寿命通常以小时为单位，但使用条件下的寿命为
几年后更有趣。
加速寿命测试通常包括几个温度和电流。
失效时间 ~ I^N*exp (Ea/(Kb*T))
在哪里
我是当前
N 是当前指数
T 是温度 (K)
文献中报道的半导体激光器的电流系数（N）在2-4的范围内。
问题 2：JMP 可以估算 N 吗？
在 ALTA 中，您可以选择“Arrenius”模型或“Temperature-Non-Thermal”模型，
然后会给我一个表格，包括：Ea、N、sigma、μ（包括置信限）。
这四个参数通常包含在向客户提供的可靠性报告中。
实际上，你经常选择“锁定”N=2，以便在最终分析中获得更可靠的 TTF 预测，但我总是想
运行完整模型以确认新的激光器量子阱和材料设计将显示 N~2。
例如，下面是不同压力组的平均故障时间（数据来自旧产品，已不再市场上）
如果您可以在表格下方获得分布图而无需计算“校正的 TTF”，那将是一个很好的节省时间的方法
在典型电流 (7mA) 和温度 (371K) 下。在实际分析中，分布图包括测试中的所有激光器，而不是每组的中值 TTF。
