Ciao,
un cliente vorrebbe avere indicazioni su come utilizzare JMP per stimare l'energia di attivazione
e coefficiente di corrente secondo il modello di Arrenius. Questo cliente utilizzava in precedenza Reliasoft ALTA per questo scopo. Sarebbe fantastico avere una risposta entro la fine di quest'anno 
Grazie in anticipo,
Saluti,
Valeria
Ciao a tutti,
Grazie, un'altra domanda:
Il tipo di grafici che utilizziamo quando riportiamo la durata di usura dei laser a semiconduttore è il
diagramma di distribuzione allo stato d'uso.
Domanda 1 : Dal "Fit Life by X" - posso utilizzare l'energia di attivazione del modello per ricalcolare tutti i tempi di guasto
alle condizioni di utilizzo tipiche (necessità di generare una nuova colonna con dati) per generare un grafico di distribuzione (vedere l'esempio seguente).
È facilmente accessibile in JMP?
In genere sarebbe simile a questo in Reliasoft ALTA. Una funzione interessante in ALTA era la possibilità di scegliere l'unità (ore/giorni/anni).
la scala temporale presentata. La durata accelerata viene normalmente misurata in ore, ma lo è la durata in condizioni d'uso
più interessante negli anni.
Il test di vita accelerato consisterebbe tipicamente in diverse temperature e correnti.
Tempo prima del fallimento ~ I^N*exp (Ea/(Kb*T))
Dove
Io sono la corrente
N è l'esponente corrente
T è la temperatura (K)
I coefficienti di corrente (N) riportati in letteratura sono compresi tra 2 e 4 per i laser a semiconduttore.
Domanda 2: JMP può stimare N?
In ALTA puoi scegliere tra il modello “Arrenius” o il modello “Temperatura-Non Termica”,
Che poi mi darebbe una tabella che include: Ea, N, sigma, µ compresi i limiti di confidenza.
Questi quattro parametri verrebbero generalmente inclusi nel rapporto sull'affidabilità presentato ai clienti.
In pratica spesso si sceglie di “bloccare” N=2 per ottenere in ultima analisi una previsione più affidabile sul TTF, ma io voglio sempre farlo
eseguire un modello completo per confermare che i pozzi quantici dei nuovi laser e la progettazione dei materiali mostrerebbero N~2.
Di seguito è riportato un esempio del tempo medio di guasto per diversi gruppi di stress (i dati provengono da un vecchio prodotto, che non è più sul mercato)
Sarebbe un bel risparmio di tempo se potessi ottenere i grafici del diagramma di distribuzione sotto la tabella senza dover calcolare il "TTF corretto"
alla corrente tipica (7 mA) e alla temperatura (371 K). In un'analisi reale, il grafico della distribuzione include tutti i laser sottoposti al test, non il TTF mediano per ciascun gruppo.
