Salut,
un client souhaite avoir des conseils sur la façon d'utiliser JMP pour estimer l'énergie d'activation
et coefficient de courant selon le modèle d'Arrenius. Ce client utilisait auparavant Reliasoft ALTA à cette fin. Ce serait formidable d'avoir une réponse avant la fin de ce petit matin 
Merci d'avance,
Acclamations,
Valérie
Salut tout le monde,
Merci - une autre question :
Le type de graphiques que nous utilisons pour rapporter les durées de vie d'usure des lasers à semi-conducteurs est le
parcelle de distribution en condition d'utilisation.
Question 1 : À partir de « Fit Life by X » - puis-je utiliser l'énergie d'activation du modèle pour recalculer tous les temps avant panne
aux conditions d'utilisation typiques (nécessité de générer une nouvelle colonne avec des données) pour générer un diagramme de distribution (voir exemple ci-dessous).
Est-ce facilement accessible dans JMP ?
Cela ressemblerait généralement à ceci dans Reliasoft ALTA. Une fonction intéressante d'ALTA était que vous pouviez choisir l'unité (heures/jours/années) sur
l'échelle de temps présentée. Les durées de vie accélérées sont normalement mesurées en heures, mais la durée de vie dans les conditions d'utilisation est
plus intéressant au fil des années.
Le test de durée de vie accéléré consiste généralement en plusieurs températures et courants.
Délai de défaillance ~ I^N*exp (Ea/(Kb*T))
Où
Je suis le courant
N est l'exposant actuel
T est la température (K)
Les coefficients de courant (N) rapportés dans la littérature sont compris entre 2 et 4 pour les lasers à semi-conducteurs.
Question 2 : JMP peut-il estimer N ?
Dans ALTA, vous pouvez choisir entre le modèle « Arrenius » ou le modèle « Température-Non-Thermique »,
Ce qui me donnerait alors un tableau comprenant : Ea, N, sigma, µ incluant les limites de confiance.
Ces quatre paramètres seraient généralement inclus dans le rapport de fiabilité présenté aux clients.
En pratique, vous choisissez souvent de « verrouiller » N=2 pour obtenir une prédiction plus fiable sur le TTF en dernière analyse, mais je veux toujours
exécutez un modèle complet pour confirmer que les nouveaux puits quantiques et la conception des matériaux des nouveaux lasers afficheraient N ~ 2.
À titre d'exemple, vous trouverez ci-dessous les délais médians avant défaillance pour différents groupes de stress (les données proviennent d'un ancien produit, qui n'est plus sur le marché)
Ce serait un gain de temps appréciable si vous pouviez obtenir les graphiques de distribution sous le tableau sans avoir à calculer le « TTF corrigé »
au courant typique (7 mA) et à la température (371 K). Dans une analyse réelle, le tracé de distribution inclut tous les lasers testés, et non le TTF médian pour chaque groupe.
