你好呀，
客戶希望獲得有關如何使用 JMP 估算活化能的一些指導
和根據 Arrenius 模型的電流係數。該客戶之前曾使用 Reliasoft ALTA 來實現此目的。如果能在本週結束前得到答案就太好了:)
先謝，
乾杯，
瓦萊麗
大家好，
謝謝-另一個問題：
我們在報告半導體雷射的磨損壽命時使用的圖表是
使用條件下的分佈圖。
問題 1 ：來自“Fit Life by X” - 我可以使用模型中的活化能來重新計算所有故障時間
典型的使用條件（需要產生一個新的資料列）來產生分佈圖（請參閱下面的範例）。
在 JMP 中可以輕鬆存取嗎？
在 Reliasoft ALTA 中通常看起來像這樣。 ALTA 中的一個很好的功能是您可以選擇單位（小時/天/年）
所提出的時間尺度。加速壽命通常以小時為單位，但使用條件下的壽命為
幾年後更有趣。
加速壽命測試通常包括幾個溫度和電流。
失效時間 ~ I^N*exp (Ea/(Kb*T))
在哪裡
我是當前
N 是當前指數
T是溫度（K）
文獻中所報告的半導體雷射電流係數（N）在2-4的範圍內。
問題 2：JMP 可以估算 N 嗎？
在 ALTA 中，您可以選擇“Arrenius”模型或“Temperature-Non-Thermal”模型，
然後會給我一個表格，包括：Ea、N、sigma、μ（包括信賴區間）。
這四個參數通常包含在向客戶提供的可靠性報告中。
實際上，你經常選擇「鎖定」N=2，以便在最終分析中獲得更可靠的 TTF 預測，但我總是想
運行完整模型以確認新的雷射量子阱和材料設計將顯示 N~2。
例如，以下是不同壓力組的平均故障時間（數據來自舊產品，已不再市場上）
如果您可以在表格下方獲得分佈圖而無需計算“校正的 TTF”，那將是一個很好的節省時間的方法
在典型電流 (7mA) 和溫度 (371K) 下。在實際分析中，分佈圖包括測試中的所有雷射器，而不是每組的中位數 TTF。
