Hola,
A un cliente le gustaría recibir orientación sobre cómo utilizar JMP para estimar la energía de activación.
y coeficiente actual según el modelo de Arrenius. Este cliente utilizaba anteriormente Reliasoft ALTA para este propósito. Sería genial tener una respuesta hasta el final de este mes 
Gracias de antemano,
Salud,
valeria
Hola a todos,
Gracias - otra pregunta:
El tipo de gráficos que utilizamos cuando informamos sobre la vida útil de los láseres semiconductores es el
Parcela de distribución en condiciones de uso.
Pregunta 1 : De “Fit Life by X”: ¿puedo usar la energía de activación del modelo para recalcular todos los tiempos de falla?
a las condiciones de uso típicas (es necesario generar una nueva columna con datos) para generar un gráfico de distribución (consulte el ejemplo a continuación).
¿Es fácilmente accesible en JMP?
Normalmente, esto se vería así en Reliasoft ALTA. Una buena función en ALTA era que podías elegir la unidad (horas/días/años) en
la escala de tiempo presentada. La vida útil acelerada normalmente se mide en horas, pero la vida útil en condiciones de uso es
más interesante en años.
La prueba de vida acelerada normalmente consistiría en varias temperaturas y corrientes.
Tiempo hasta el fallo ~ I^N*exp (Ea/(Kb*T))
Dónde
yo soy el actual
N es el exponente actual
T es la temperatura (K)
Los coeficientes de corriente (N) informados en la literatura están en el rango de 2 a 4 para láseres semiconductores.
Pregunta 2: ¿Puede JMP estimar N?
En ALTA se puede elegir entre el modelo “Arrenius” o el modelo “Temperatura-No Térmica”,
Lo que luego me daría una tabla que incluye: Ea, N, sigma, µ incluidos los límites de confianza.
Estos cuatro parámetros normalmente se incluirían en el informe de confiabilidad presentado a los clientes.
En la práctica, a menudo se elige "bloquear" N=2 para obtener una predicción más confiable sobre TTF en el análisis final, pero siempre quiero
Ejecute un modelo completo para confirmar que los nuevos pozos cuánticos de láser y el diseño de materiales mostrarían N ~ 2.
A continuación se muestra un ejemplo de tiempo medio hasta que fallan para diferentes grupos de estrés (los datos provienen de un producto antiguo que ya no está en el mercado).
Sería un buen ahorro de tiempo si pudiera obtener los gráficos de distribución debajo de la tabla sin tener que calcular el "TTF corregido".
a corriente típica (7 mA) y temperatura (371 K). En un análisis real, el gráfico de distribución incluye todos los láseres en prueba, no la mediana del TTF para cada grupo.
