Cette session américaine se déroule en anglais, à 14h00, heure de l'Est des États-Unis.
Les tests de durée de vie accélérés (ALT) sont nécessaires pour évaluer la fiabilité des produits pour les pièces qui doivent fonctionner correctement pendant de longues périodes. En raison des faibles taux de défaillance dans les conditions d'utilisation, les pièces doivent être testées à des niveaux de contraintes élevés pour générer des défaillances dans un délai raisonnable. Les appareils nécessitant de telles analyses de fiabilité comprennent les appareils médicaux, les circuits semi-conducteurs, les équipements aéronautiques et bien plus encore. Découvrez comment analyser les données de tests accélérés pour prédire les durées de vie dans des conditions d'utilisation pour des tests de contraintes constantes simples et multiples, ainsi que pour des tests de contraintes progressives. Examinez une zone d’exploitation sûre à l’aide de tracés de contour. Regardez une démo de 30 minutes suivie de 15 à 30 minutes de discussion thématique et de questions-réponses.
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