JMP ウェビナーをマスターする - 製品の信頼性を高める加速寿命試験の詳細この米国セッションは、米国東部時間の午後 2 時に英語で開催されます。
加速寿命試験 (ALT) は、長期間良好に動作する必要がある部品の製品信頼性を評価するために必要です。使用条件での故障率が低いため、妥当な時間内に故障を発生させるには、部品を高いストレス レベルでテストする必要があります。このような信頼性解析が必要なデバイスには、医療機器、半導体回路、航空機器などが含まれます。加速試験データを分析して、単一および複数の定応力試験と傾斜応力試験の両方の使用条件での寿命を予測する方法をご覧ください。等高線図を使用して安全な動作領域を調べます。 30 分間のデモと、その後の 15 ～ 30 分間のトピック ディスカッションと Q&A をご覧ください。
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JMPをマスターする信頼性解析
