Esta sesión en EE. UU. se lleva a cabo en inglés, a las 2:00 p. m., hora del este de EE. UU.
Se requieren pruebas de vida acelerada (ALT) para evaluar la confiabilidad del producto para piezas que deben funcionar bien durante períodos prolongados. Debido a las bajas tasas de fallas en las condiciones de uso, las piezas deben probarse a altos niveles de tensión para generar fallas en un período de tiempo razonable. Los dispositivos que requieren dichos análisis de confiabilidad incluyen dispositivos médicos, circuitos semiconductores, equipos de aviación y más. Vea cómo analizar datos de pruebas aceleradas para predecir la vida útil en condiciones de uso para pruebas de tensión constantes únicas y múltiples, junto con pruebas de tensión aceleradas. Examine un área de operación segura utilizando trazados de contorno. Vea una demostración de 30 minutos seguida de 15 a 30 minutos de debate sobre temas y preguntas y respuestas.
Regístrese para asistir a este seminario web en línea Mastering JMP presentado por JMP Systems Engineers.
