Diese US-Sitzung findet um 14:00 Uhr US Eastern Time auf Englisch statt.
Für die Bewertung der Produktzuverlässigkeit von Teilen, die über lange Zeiträume eine gute Leistung erbringen müssen, ist ein beschleunigter Lebensdauertest (ALT) erforderlich. Aufgrund der geringen Ausfallraten unter Einsatzbedingungen müssen Teile unter hohen Belastungsniveaus getestet werden, um innerhalb einer angemessenen Zeitspanne zu Ausfällen zu führen. Zu den Geräten, die solche Zuverlässigkeitsanalysen erfordern, gehören medizinische Geräte, Halbleiterschaltkreise, Luftfahrtausrüstung und mehr. Erfahren Sie, wie Sie beschleunigte Testdaten analysieren, um die Lebensdauer unter Nutzungsbedingungen sowohl für einzelne als auch für mehrere konstante Belastungstests sowie für Tests mit erhöhter Belastung vorherzusagen. Untersuchen Sie einen sicheren Betriebsbereich mithilfe von Konturdiagrammen. Sehen Sie sich eine 30-minütige Demo an, gefolgt von 15–30 Minuten Themendiskussion und Fragen und Antworten.
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