El objetivo de un estudio es encontrar el espacio de control de cuatro factores para que tres respuestas estén dentro de las especificaciones. En el simulador de perfilador, primero utilicé el perfilador de defectos para verificar el impacto de los factores en la tasa de defectos que se muestra en el gráfico superior a continuación. Luego utilicé el perfilador de espacio de diseño que se muestra en el gráfico inferior: los resultados para la tasa mínima de defectos son diferentes, ¿por qué? Acepto los rangos de control del perfilador de espacio de diseño, pero ¿por qué las primeras estimaciones de los rangos de defectos mínimos realizados por el perfilador de defectos son diferentes?
Hola @frankderuyck ,
Encontré esta publicación sin ninguna respuesta y pensé que valdría la pena proporcionar una respuesta, para que los futuros usuarios puedan obtener ayuda si enfrentan la misma pregunta.
El "truco" para tener resultados similares entre Design Space Profiler y Defect Profiler es ajustar todos los rangos y distribuciones de factores correspondientes de la misma manera entre las dos plataformas, ya que no están directamente vinculados.
Utilizando el conjunto de datos de rebote en la biblioteca de muestra JMP, especifiqué los límites de especificación en la respuesta "Stretch" (LSL=400, Target=450, USL=500):
Luego creo un modelo y abro el Design Space Profiler para encontrar los rangos de factores correctos que ayudan a minimizar la proporción de muestras fuera de especificación:
Con estos rangos de factores, puedo esperar que el 97,74% de mis muestras estén dentro de las especificaciones.
Al abrir ahora el Simulador, especifico estos rangos de factores utilizando distribuciones uniformes (la elección de la distribución influye en la tasa de defectos) y luego hago clic en "Simular":
Ahora tengo una tasa de defectos del 2,23 %, muy cercana a la que podría obtener con Design Space Profiler (P = 100-Inspec = 100-97,74 = 2,26 %). Recuerde que los cálculos del simulador se basan en simulaciones de Montecarlo, por lo que la tasa de defectos puede variar un poco en cada simulación, pero el resultado debería ser cercano al de Design Space Profiler. Las dos plataformas ahora están alineadas.
Finalmente, al observar el Perfilador de defectos, debe ajustar los rangos de factores de este perfilador (haga clic derecho en el eje X y, en "Configuración del eje", especifique los valores mínimo y máximo de sus factores para que coincidan con los rangos del Perfilador de espacio de diseño) de modo que la tasa de defectos solo se calcule en función de los mismos rangos del Simulador y el Perfilador de espacio de diseño:
La tasa máxima de defectos en este Profiler se puede encontrar en 2,27%, bastante cercana a la encontrada con el Simulador (2,23%) y con el Design Space Profiler (2,26%).
Al fijar los mismos rangos de factores del Design Space Profiler en el Simulador y el Defect Profiler se pueden encontrar tasas de defectos similares.
Espero que esta respuesta pueda ayudar a otros usuarios.
