規格良率分析親愛的 JMP 社群：
我是 JMP 的新手，想要建造一個小部件，允許滑動規格限制並最終對產品進行良率評估。這樣的能力對我來說非常有幫助。也許其他從事成本敏感產品工作的工程師也可以從討論中受益。我已經包含了一個描述問題陳述的表格。 
詢問描述（上表）：假設產品有三個測試階段。每個測試大約有大約 50 個參數。每個測試都有自己的結果產量。要出貨產品，它必須通過三項測試中每一項的所有參數。產量很大程度決定了產品成本。因此，移動單一測試規格（在滑桿上作為變數）並查看對該測試結果良率的影響的能力對於決策來說非常強大。向客戶反提出規格/價格等。
我還想為此小部件建立一個過濾功能，允許為此類分析選擇特定材料（產品、批次、晶圓），或時間搜尋（開始日期和結束日期），或這些元素的組合來過濾產量分析之前的數據表。
本例中的資料來源格式是資料庫取得的 .csv 檔案。
JMP 社群提供的任何有關如何建造此類小部件的指示都會非常有幫助。謝謝。
資料存取數據探索和視覺化蘋果系統大規模客製化回覆：規格良率分析JMP17 將在幾個月後發布，它包含一個新的分析功能，可實現您正在尋找的功能，稱為設計空間分析器。此分析器將允許您以互動方式調整規格限制，以確定係統中最終的符合規格率。敬請關注！
回覆：規範產量分析您基本上是在談論在 JMP 中建立自訂應用程式。您可能希望將其編碼為也稱為 JMP 插件的內容。應用程式幾乎總是 JMP JSL 編碼的累積（JSL 是 JMP Scripting Language 的縮寫）。我想我可以看到/視覺化您想要完成的任務...訣竅是建立應用程式...借助一些相當優雅的 JSL 編碼技能，您可以自己完成...或者可以聯繫 JMP 合作夥伴之一併僱用他們為您建立應用程式。祝你好運！
