Unisciti a noi per una sessione pomeridiana con presentazioni sulle applicazioni pratiche di JMP. Si terrà dopo pranzo, dopo la presentazione mattutina Novità in JMP 15 e Novità in JMP Pro 15 da parte dello staff JMP che effettuerà dimostrazioni e risponderà a domande sulle nuove funzionalità.
Posizione:
Centro di formazione SAS Arlington
1530 Wilson Boulevard
Suite 1000
Arlington, Virginia 22209
13:30 - 16:00
L'ordine del giorno dell'incontro MAJUG pomeridiano e il modulo di registrazione sono in fase di definizione. Le presentazioni includeranno:
Estrarre preziose informazioni pratiche da modelli sperimentali creati per la qualità attraverso il design
Presentato da Rob Lievense, ingegnere di sistema senior, JMP
Estrazione di preziose informazioni pratiche dai modelli sperimentali creati per la qualità fin dalla progettazione I modelli JMP DOE possono essere utilizzati dinamicamente per fornire alle parti interessate stime affidabili delle prestazioni di qualità dei nuovi prodotti. La progettazione e l'esecuzione di esperimenti strutturati e multivariati consentono a scienziati e ingegneri di definire in modo efficiente uno spazio di progettazione solido per la produzione di dispositivi medici e farmaceutici. I modelli creati tramite la piattaforma DOE in JMP vengono utilizzati per determinare le impostazioni dei parametri critici di processo (CPP) che garantiscono un processo solido per realizzare prodotti che soddisfano i requisiti per gli attributi critici di qualità (CQA). Le proposte normative che includono tali elementi QbD dimostrano che i rischi sono stati mitigati; tuttavia, molte informazioni pratiche possono essere estratte con le simulazioni del modello. Questa presentazione utilizza il modello sperimentale con informazioni storiche e competenze in materia per proiettare le probabili prestazioni operative di un prodotto. Il modello DOE Prediction Profiler viene utilizzato con il simulatore per prevedere dinamicamente una popolazione di risultati futuri con modelli di variazione del mondo reale inclusi negli input. Questa modellazione dinamica è un ottimo strumento per impostare i limiti della scheda di produzione determinando uno spazio di controllo della produzione definito con stime della percentuale di difetti. Le analisi consentono di includere l'incertezza di misura come fattore di rumore aggiuntivo per la risposta.
