JMP を使用して、製造システムにおけるプロセスの理解とモデリングのための大規模な産業データセットのスクリーニングと視覚化を行います。プレゼンター：マックス・モーブレイ、マンチェスター大学
この講演では、連続製造プロセスの生産における変動を引き起こす重要なプロセス変数とセンサーを特定するために、大規模な工業プロセス データセットを視覚化およびスクリーニングするための JMP の使用について探ります。 重要なプロセス変数と生産指標の間の多変数関係は、予測モデルによって近似され、その後分析され、新しいプロセスの理解を可能にします。
