我附上了來自 INEOS Composites 的 Tom Skelskey 參與的一個與 Max Diff 研究相關的專案的幻燈片，該專案旨在開發視覺評級系統的效用函數。然後，他使用表面分析儀將效用函數與相同零件的結果相關聯，以了解偏轉計的哪些波長與評審小組評估的零件最相關。
