Wenn ich einige Stellen auf mehreren Wafern gemessen habe. Welche Optionen gibt es in Jmp, um interpolierte Werte über alle Stellen auf dem Wafer zu berechnen?
Die Verwendung des Anpassungsmodells (mit der Gruppe „Nach“) und das Speichern des Anpassungsmodells als Gleichung in der Tabelle ist nicht genau genug.
Ich habe über eine Spline-Anpassung, lineare oder Gaußsche Interpolation nachgedacht.
Am besten: direkt über JSL.
Alternativ kann ich für ein Punktdiagramm die Anpassung und die Glättungsformel speichern.
Ist es für ein Konturdiagramm möglich, die Formel „Farbe“ vs. x/y zu speichern?
Hat Interpolate eine gruppiere nach Möglichkeit?
Gruppieren nach – sooo nützlich!!! Wie wäre es mit Interpolieren?
