프로세스 개선을 목적으로 이상값 계산JMP 17.2
우리는 장치의 데이터 분포를 분석하고 1사분위수 아래와 3사분위수 이상에서 이상치를 볼 수 있습니다. 우리는 이상치 수를 줄이기 위해 제조 공정을 개선하고자 합니다. 이상값을 계산하는 기능이나 애플리케이션이 있나요? 예를 들어, 내가 보고 싶은 출력은 다음과 같습니다.
시험 | 분포 | 1사분위수 미만의 이상값 수 | 3사분위수 이상의 이상값 수 |
ㅏ | 1 | 4 | 9 |
ㅏ | 2 | 8 | 0 |
… | | | |
ㅏ | N | n1 | n2 |
이 함수를 사용하여 이상값을 정의할 수 있습니까? 아니면 이상값 상자 도표에 제공된 기본 정의를 사용해야 합니까?
데이터 탐색 및 시각화품질 및 프로세스 엔지니어링Re: 프로세스 개선을 목적으로 이상값 계산안녕 @MichaelR1 ,
플랫폼이라고 생각한다" 특이치 탐색 "는 사용 사례에 관련성이 있고 도움이 될 수 있습니다("분석", "스크리닝" 메뉴, "이상값 탐색" 메뉴에서 사용 가능).
플랫폼을 열 때 이상값을 선별하려는 모든 열을 선택할 수 있습니다.
그리고 그 중에서 이상값을 감지하는 방법에 대한 여러 가지 선택 사항이 있습니다.
귀하의 경우, 분위수 범위 이상값에만 관심이 있는 경우 관련 버튼을 클릭하면 선택한 열의 이상값이 화면에 표시되고 이러한 점을 강조할 수 있는 다양한 옵션과 함께 분석 요약이 제공됩니다.
요약 테이블을 마우스 오른쪽 버튼으로 클릭한 다음 "결합된 데이터 테이블 만들기"를 선택하여 이 패널에서 요약 데이터 테이블을 생성할 수 있으며, 정보가 새 JMP 테이블에 표시되도록 할 수 있습니다(추가 처리/분석용).
이 첫 번째 답변이 도움이 되기를 바랍니다.
