프로세스 개선을 목적으로 이상값 계산JMP 17.2
우리는 장치의 데이터 분포를 분석하고 1사분위수 아래와 3사분위수 이상에서 이상치를 볼 수 있습니다. 우리는 이상치 수를 줄이기 위해 제조 공정을 개선하고자 합니다. 이상값을 계산하는 기능이나 애플리케이션이 있나요? 예를 들어, 내가 보고 싶은 출력은 다음과 같습니다.
시험 | 분포 | 1사분위수 미만의 이상값 수 | 3사분위수 이상의 이상값 수 |
ㅏ | 1 | 4 | 9 |
ㅏ | 2 | 8 | 0 |
… | | | |
ㅏ | N | n1 | n2 |
이 함수를 사용하여 이상값을 정의할 수 있습니까? 아니면 이상값 상자 도표에 제공된 기본 정의를 사용해야 합니까?
데이터 탐색 및 시각화품질 및 프로세스 엔지니어링
