プロセスを改善する目的で外れ値をカウントするJMP 17.2
当社はデバイスからのデータ分布を分析しており、第 1 四分位以下および第 3 四分位以上に異常値が見つかる場合があります。 異常値の数を減らすために製造プロセスを改善したいと考えています。 外れ値をカウントする関数またはアプリケーションはありますか? たとえば、私が見たい出力は次のとおりです。
テスト | 分布 | 第 1 四分位以下の外れ値の数 | 第 3 四分位を超える外れ値の数 |
あ | 1 | 4 | 9 |
あ | 2 | 8 | 0 |
… | | | |
あ | n | n1 | n2 |
この関数では外れ値を定義できますか、それとも外れ値箱ひげ図に示されているデフォルトの定義を使用する必要がありますか。
データの探索と視覚化品質およびプロセスエンジニアリング
