Estoy analizando la salida de formas de onda durante la prueba de RF.Las superposiciones de formas de onda de pruebas de múltiples placas muestran cambios de fase y amplitud de placa a placa.Creo que una opción de análisis útil podría ser utilizar una curva de referencia/objetivo como punto de partida y luego tener la capacidad de calcular una envolvente alrededor de la curva.Quizás podríamos decir que esto sería un LL y UL para cada punto de datos de la curva objetivo.El cálculo de los puntos de la curva envolvente podría tener algunas opciones seleccionables como +/- n sigma o +/- un porcentaje del punto de datos.Con la envolvente dibujada, calcule algunas estadísticas, como N formas de onda que exceden LL o UL, N puntos que exceden LL o UL, y una indicación y lista de las formas de onda fuera de especificación mediante algún parámetro seleccionable, como el número de serie.
Mi dificultad es que establecer límites a nivel de placa se complica porque las placas se pueden ajustar nuevamente a un punto operativo preciso durante la calibración del sistema.Por lo tanto, si podemos limitar las formas de onda aceptables a una ventana específica, también sabremos que hay margen en la calibración del sistema para ajustar las placas con precisión.
JMP 17.2.0
