Sto analizzando l'uscita delle forme d'onda durante il test RF.Le sovrapposizioni delle forme d'onda dei test su più schede mostrano gli spostamenti da scheda a scheda in fase e ampiezza.Credo che un'opzione di analisi utile potrebbe essere quella di utilizzare una curva di riferimento/obiettivo come punto di partenza e quindi avere la possibilità di calcolare un inviluppo attorno alla curva.Forse potremmo dire che questo sarebbe un LL e UL per ciascun punto dati della curva target.Il calcolo per i punti della curva dell'inviluppo potrebbe avere alcune opzioni selezionabili come +/- n sigma o +/- una percentuale del punto dati.Con l'inviluppo disegnato, calcolare alcune statistiche come N forme d'onda che superano LL o UL, N punti che superano LL o UL e un'indicazione e un elenco delle forme d'onda fuori specifica tramite alcuni parametri selezionabili come il numero di serie.
La mia difficoltà è che l'impostazione dei limiti a livello di scheda è complicata dalle schede che possono essere riportate a un punto operativo preciso durante la calibrazione del sistema.Pertanto, se riusciamo a limitare le forme d'onda accettabili all'interno di una finestra specifica, sapremo anche che c'è margine durante la calibrazione del sistema per ottimizzare le schede con precisione.
JMP17.2.0
