波形可调限制线和统计我正在分析射频测试期间输出的波形。多个板测试的波形叠加显示了板与板之间的相位和幅度偏移。我相信一个有用的分析选项可以使用参考/目标曲线作为起点，然后能够计算曲线周围的包络线。也许我们可以说这将是每个目标曲线数据点的 LL 和 UL。包络曲线点的计算可以有一些可选选项，例如 +/- n sigma 或 +/- 数据点的百分比。绘制包络线后，计算一些统计数据，例如超过 LL 或 UL 的 N 个波形、超过 LL 或 UL 的 N 个点，以及通过某些可选参数（例如序列号）指示和列出的不合格波形。
我的困难是在板级设置限制很复杂，因为板可以在系统校准期间调整回精确的工作点。因此，如果我们能够将可接受的波形限制在特定窗口内，我们还将知道系统校准还有空间来精确调整电路板。
JMP 17.2.0
高级统计建模
