RF 테스트 중 출력되는 파형을 분석하고 있습니다.여러 보드 테스트의 파형 오버레이는 보드 간 위상 및 진폭 변화를 보여줍니다.유용한 분석 옵션은 참조/대상 곡선을 시작점으로 사용한 다음 곡선 주위의 엔벨로프를 계산하는 기능이 있을 수 있다고 생각합니다.아마도 이것이 각 목표 곡선 데이터 포인트에 대한 LL 및 UL이라고 말할 수 있습니다.엔벨로프 곡선 포인트에 대한 계산에는 +/- n 시그마 또는 데이터 포인트의 +/- 백분율과 같은 선택 가능한 옵션이 있을 수 있습니다.그려진 엔벨로프를 사용하여 LL 또는 UL을 초과하는 N개의 파형, LL 또는 UL을 초과하는 N개의 포인트, 일련 번호와 같은 일부 선택 가능한 매개변수에 의한 사양을 벗어난 파형 표시 및 목록과 같은 일부 통계를 계산합니다.
내 어려움은 보드 수준에서 제한을 설정하는 것이 시스템 교정 중에 정확한 작동 지점으로 다시 조정할 수 있는 보드로 인해 복잡하다는 것입니다.따라서 허용 가능한 파형을 특정 창 내에 제한할 수 있다면 시스템 교정 시 보드를 정확하게 조정할 수 있는 헤드룸이 있다는 것도 알게 될 것입니다.
JMP 17.2.0
