波形可調限制線和統計我正在分析射頻測試期間輸出的波形。多個板測試的波形疊加顯示了板與板之間的相位和振幅偏移。我相信一個有用的分析選項可以使用參考/目標曲線作為起點，然後能夠計算曲線周圍的包絡線。也許我們可以說這將是每個目標曲線資料點的 LL 和 UL。包絡曲線點的計算可以有一些可選選項，例如 +/- n sigma 或 +/- 資料點的百分比。繪製包絡線後，計算一些統計數據，例如超過LL 或UL 的N 個波形、超過LL 或UL 的N 個點，以及透過某些可選參數（例如序號）指示和列出的不合格波形。
我的困難是在板級設定限制很複雜，因為板可以在系統校準期間調整回精確的工作點。因此，如果我們能夠將可接受的波形限制在特定視窗內，我們還將知道系統校準還有空間來精確調整電路板。
JMP 17.2.0
進階統計建模
