J'analyse les formes d'onde émises pendant le test RF.Les superpositions de formes d'onde de tests de plusieurs cartes montrent les changements de phase et d'amplitude carte à carte.Je pense qu'une option d'analyse utile pourrait consister à utiliser une courbe de référence/cible comme point de départ, puis à avoir la possibilité de calculer une enveloppe autour de la courbe.Peut-être pourrions-nous dire qu'il s'agirait d'un LL et d'un UL pour chaque point de données de la courbe cible.Le calcul des points de courbe d'enveloppe peut avoir certaines options sélectionnables telles que +/- n sigma ou +/- un pourcentage du point de données.Avec l'enveloppe dessinée, calculez des statistiques telles que N formes d'onde dépassant soit LL ou UL, N points dépassant soit LL ou UL, ainsi qu'une indication et une liste des formes d'onde hors spécifications par un paramètre sélectionnable tel que le numéro de série.
Ma difficulté est que la définition de limites au niveau de la carte est compliquée par les cartes qui peuvent être modifiées à un point de fonctionnement précis lors de l'étalonnage du système.Par conséquent, si nous pouvons limiter les formes d'onde acceptables dans une fenêtre spécifique, nous saurons également qu'il existe une marge de manœuvre lors de l'étalonnage du système pour ajuster les cartes avec précision.
JMP17.2.0
