Mittelpunkte in kleinen Designräumen können oft durch Inspektion in der Datentabelle identifiziert werden.Bei Mischungsentwürfen mit vielen Komponenten (>=5) wird dies deutlich schwieriger, insbesondere wenn lineare Randbedingungen überlagert sind.Wenn Designpunkte mit klassischen Bezeichnungen übereinstimmen (z. B. Scheitelpunkte, Schwerpunkte, binäre Doppelmischungen, axiale Kontrollpunkte usw.), kann JMP diese beschriften?In diesen größeren Systemen kann ich den Schwerpunkt durch Inspektion nicht finden.Dank im Voraus.
