Wie erhalte ich Wiederholbarkeits-, Reproduzierbarkeits- und Gauge-R&R-Variationswerte für jeden Parameter in einer Tabelle nach der Gauge-R&R-Analyse über JSL?Ich führe Gauge R&R-Analysen für mehrere (~100) gemessene Parameter durch. In meiner Datentabelle mit Teilen, Bediener-ID/Inspektor und Wiederholungen sind Spezifikationsgrenzwerte in den Spalten der gemessenen Parameter gespeichert.
Die interaktive Durchführung des Gauge R&R-Analyseprozesses, wie in diesem Video zum Zeitpunkt 1,38 Minuten gezeigt, ist ineffizient und inkontinent, wenn die Parameter ~100 sind.
https://community.jmp.com/t5/Statistical-Thinking-for/Conducting-a-Gauge-R-amp-R-Analysis/ta-p/271895https://community.jmp.com/t5/Statistical- Thinking-for/Conducting-a-Gauge-R-amp-R-Analysis/ta-p/271895
Ich möchte den Prozess automatisieren und die Werte für Wiederholbarkeit, Reproduzierbarkeit und Messgerät-R&R-Variation in einer Datentabelle abrufen.
Wie geht das über JSL?
WindowsBetreff: Wie erhalte ich Wiederholbarkeits-, Reproduzierbarkeits- und Gauge-R&R-Variationswerte für jeden Parameter in einer Tabelle nach der Gauge-R&R-Analyse über JSL?Es gibt viele Möglichkeiten, dies zu tun. Nachfolgend finden Sie ein recht einfaches Beispiel für eine Möglichkeit
Names Default To Here(1);
dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
var = dt << Variability Chart(
Y(:NPN1, :PNP1, PNP2),
Model("Main Effect"),
X(:SITE),
Variability Analysis(:NPN1, "Gauge R&R Report"n(1)),
Variability Analysis(:PNP1, "Gauge R&R Report"n(1))
);
Wenn Sie einseitige Spezifikationen haben, überprüfen Sie unbedingt, ob die Variablen davor und danach korrekt funktionieren. Bei einigen JMP-Versionen gab es einen Fehler, der falsche Grenzwerte verwendete, wenn man zwischen der Ausführung einseitig war und sich auf die Spalteneigenschaft „Spezifikationsgrenzen“ verließ (dies könnte in JMP17 behoben werden, ich bin mir nicht sicher). Heutzutage verwende ich eine andere Methode).
Betreff: Wie erhalte ich Wiederholbarkeits-, Reproduzierbarkeits- und Gauge-R&R-Variationswerte für jeden Parameter in einer Tabelle nach der Gauge-R&R-Analyse über JSL?@jthi Danke, ich habe für jeden gemessenen Parameter sowohl LSL als auch USL.
Was Sie gepostet haben, ist, wenn ich es richtig verstehe, das anfänglich Analyseteil.
Ich möchte die nächste Stufe automatisieren, nämlich das Abrufen Wiederholbarkeits-, Reproduzierbarkeits- und Messgerät-R&R-Variationswerte (markiert mit roten Pfeilen) für jede Messung in einer neuen Datentabelle .
In dem Video, das ich zuvor verlinkt habe, geschieht dies nach 1,38 Minuten nach Beginn des Videos und erfolgt manuell.

Wie kann dieser Teil über JSL automatisiert werden?
Betreff: Wie erhalte ich Wiederholbarkeits-, Reproduzierbarkeits- und Gauge-R&R-Variationswerte für jeden Parameter in einer Tabelle nach der Gauge-R&R-Analyse über JSL?Klicken Sie mit der rechten Maustaste auf die Gauge R&R-Tabelle und erstellen Sie daraus eine Tabelle, indem Sie „Kombinierte Datentabelle erstellen“ verwenden

Anhand des Tabellenskripts der resultierenden Tabelle können Sie eine Vorstellung davon bekommen, wie Sie es automatisieren können (rufen Sie einen Verweis auf das Tabellenfeld ab und verwenden Sie die Meldung „Kombinierte Datentabelle erstellen“).

Beginnen Sie mit der Automatisierung mit nur wenigen Spalten und erweitern Sie sie, wenn es funktioniert, auf weitere.
Betreff: Wie erhalte ich Wiederholbarkeits-, Reproduzierbarkeits- und Gauge-R&R-Variationswerte für jeden Parameter in einer Tabelle nach der Gauge-R&R-Analyse über JSL?@jthi Wie kann ich in diesem Code alle gemessenen Variablen (|100) in meiner Datentabelle korrekt durchlaufen?
Names Default To Here(1);
dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
var = dt << Variability Chart(
Y(:NPN1, :PNP1, PNP2),
Model("Main Effect"),
X(:SITE),
Variability Analysis(:NPN1, "Gauge R&R Report"n(1)),
Variability Analysis(:PNP1, "Gauge R&R Report"n(1))
);Betreff: Wie erhalte ich Wiederholbarkeits-, Reproduzierbarkeits- und Gauge-R&R-Variationswerte für jeden Parameter in einer Tabelle nach der Gauge-R&R-Analyse über JSL?Erstellen Sie eine Liste der relevanten Spalten und senden Sie dann die Gauge R&R Report-Nachricht

Names Default To Here(1);
dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
var = dt << Variability Chart(
Y(:NPN1, :PNP1),
Model("Main Effect"),
X(:SITE)
);
var << "Gauge R&R Report"n(1);Betreff: Wie erhalte ich Wiederholbarkeits-, Reproduzierbarkeits- und Gauge-R&R-Variationswerte für jeden Parameter in einer Tabelle nach der Gauge-R&R-Analyse über JSL?@jthi Vielen Dank, dieses Skript erledigt teilweise das, was ich tun muss, aber ich muss für die Messgerät-R&R-Analyse jedes Parameters (ich verwende JMP 16.2) im Fenster „Gauge-R&R-Spezifikation eingeben/überprüfen“ auf „OK“ klicken. Ich möchte dies nicht für meine ~100 Parameter tun.Wie automatisiere ich die Gauge R&R-Analyse/den Schritt „OK“ drücken?
Names Default To Here(1);
dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
var = dt << Variability Chart(
Y(:NPN1, :PNP1),
Model("Main Effect"),
X(:SITE)
);
var << "Gauge R&R Report"n(1);
Betreff: Wie erhalte ich Wiederholbarkeits-, Reproduzierbarkeits- und Gauge-R&R-Variationswerte für jeden Parameter in einer Tabelle nach der Gauge-R&R-Analyse über JSL?@jthi Danke. Während ich darauf warte, zu verstehen, wie dieser „OK“-Schritt für jeden gemessenen Parameter automatisiert werden kann

Wenn ich in meinem JM 16.2.0 Folgendes von oben versuche,
Names Default To Here(1);
dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
var = dt << Variability Chart(
Y(:NPN1, :PNP1, PNP2),
Model("Main Effect"),
X(:SITE),
Variability Analysis(:NPN1, "Gauge R&R Report"n(1)),
Variability Analysis(:PNP1, "Gauge R&R Report"n(1))
);
Wait (0);
rpt ["Variability Gauge", "Variability Gauge Analysis for PNP1", "Gauge R&R", Table Box[1]] <<MAKE combined="" data="https://community.jmp.com/" table=""></MAKE>Ich erhalte eine Fehlermeldung
Name Unresolved: rpt in access or evaluation of 'rpt' , rpt/*###*/
höchstwahrscheinlich, da ich rpt nicht definiert habe. Das folgende mit aus JMP kopierte Skript löst ebenfalls einen Fehler aus
Names Default To Here(1);
dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
platform = dt << Variability Chart(
Y(:NPN1, :PNP1, PNP2),
Model("Main Effect"),
X(:SITE),
Variability Analysis(:NPN1, "Gauge R&R Report"n(1)),
Variability Analysis(:PNP1, "Gauge R&R Report"n(1))
);
Wait (0);
//rpt ["Variability Gauge", "Variability Gauge Analysis for PNP1", "Gauge R&R", Table Box[1]] <<MAKE combined="" data="https://community.jmp.com/" table=""></MAKE>Ich brauche Hilfe, um fortzufahren.
Betreff: Wie erhalte ich Wiederholbarkeits-, Reproduzierbarkeits- und Gauge-R&R-Variationswerte für jeden Parameter in einer Tabelle nach der Gauge-R&R-Analyse über JSL?Ich würde mir keine Sorgen um die Tabellenbox machen, wenn Sie keine Messergebnisse erhalten können (sich später um die Tabellenbox kümmern). Ich kann mich nicht mehr daran erinnern, wie ich Gage-Scripting in früheren JMP-Versionen (JMP14, 15 und 16) durchgeführt habe, aber höchstwahrscheinlich habe ich sie einzeln durchgeführt, da es wahrscheinlich schneller geht, wenn Sie nur an den Ergebnissen und nicht an den Diagrammen interessiert sind . Dies schien in JMP16.2 zu funktionieren
Names Default To Here(1);
dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
var = dt << Variability Chart(
Y(:NPN1, :PNP1),
Model("Main Effect"),
X(:SITE),
Historical Sigma(0)
);
var << "Gauge R&R"n();Betreff: Wie erhalte ich Wiederholbarkeits-, Reproduzierbarkeits- und Gauge-R&R-Variationswerte für jeden Parameter in einer Tabelle nach der Gauge-R&R-Analyse über JSL?@jthi Danke. Dieses Skript funktioniert in meinem JMP 16.2 und fordert mich nicht auf, die Gauge-Spezifikationen zu überprüfen. Ich schaue mir das Skript für „Make Combined Data Table“ für :NPN1 an, während ich sehe
Names Default To Here( 1 );
platform = Data Table( "Semiconductor Capability" ) <<
Variability Chart(
Y( :NPN1 ),
X( :SITE ),
Model( "Main Effect" ),
Historical Sigma( 0 ),
"Gauge R&R"n( 6, 27.48 ),
"Gauge R&R Report"n( 1 )
);
Wait( 0 );
Report( platform[1] )[Outline Box( "Gauge R&R" )][Table Box( 1 )] <<
Make Combined Data Table;
Report( platform[1] ) << Close Window;
während für :PNP1, verstehe ich
Names Default To Here( 1 );
platform = Data Table( "Semiconductor Capability" ) <<
Variability Chart(
Y( :PNP1 ),
X( :SITE ),
Model( "Main Effect" ),
Historical Sigma( 0 ),
"Gauge R&R"n( 6, 265.26 ),
"Gauge R&R Report"n( 1 )
);
Wait( 0 );
Report( platform[1] )[Outline Box( "Gauge R&R" )][Table Box( 1 )] <<
Make Combined Data Table;
Report( platform[1] ) << Close Window;
Die Frage ist nun, wie man alle Parameter, für die GR&R ausgeführt wird, in einer Schleife durchläuft und die für jeden Parameter generierte „Combined Data Table“ verkettet.
Offensichtlich sind die Spezifikationen in dieser Zeile begrenzt
"Gauge R&R"n( _LSL_, _USL_ )
müssen für jeden Parameter aus der Datentabelle stammen.
Ich habe das noch nie gemacht, aber ich werde es auf meiner Seite versuchen, aber eine Anleitung wäre sehr nützlich.
Betreff: Wie erhalte ich Wiederholbarkeits-, Reproduzierbarkeits- und Gauge-R&R-Variationswerte für jeden Parameter in einer Tabelle nach der Gauge-R&R-Analyse über JSL?Ich bin mir nicht sicher, über welche Skripte Sie gerade sprechen. Dies sollte Spezifikationsgrenzen aus Spalteneigenschaften verwenden (mit Ausnahme des möglichen Fehlers, den ich zuvor erwähnt habe und der möglicherweise in JMP16 vorhanden ist).
Names Default To Here(1);
dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
var = dt << Variability Chart(
Y(:NPN1, :PNP1),
Model("Main Effect"),
X(:SITE),
Historical Sigma(0)
);
var << "Gauge R&R"n();
If(N Items(var) > 1,
result_ref = Report(var[1])[OutlineBox("Gauge R&R")];
,
result_ref = Report(var)[OutlineBox("Gauge R&R")];
);
dt_result = result_ref[TableBox(1)] << Make Combined Data Table;
show(Column(dt, "NPN1") << Get Property("Spec Limits"));
show(Column(dt, "PNP1") << Get Property("Spec Limits"));