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如何通過 JSL 進行儀表 R&R 分析後獲得表中每個參數的重複性、再現性和儀表 R&R 變化值？

我正在對幾個（約 100 個）測量參數進行 Gauge R&R 分析。 我的包含零件、操作員 ID/檢查員和重複的數據表將規格限值保存到測量參數列中。

 

當參數約為 100 時，如本視頻中所示，在時間 1.38 分鐘處交互式地執行量具 R&R 分析過程效率低下且失控。

https://community.jmp.com/t5/Statistical-Thinking-for/Conducting-a-Gauge-R-amp-R-Analysis/ta-p/271895 https://community.jmp.com/t5/Statistical -思考/進行-Gauge-R-amp-R-分析/ta-p/271895

 

我想自動化該過程並在數據表中獲取重複性、再現性和儀表 R&R 變化值。

如何通過 JSL 執行此操作？

視窗回复：如何通過 JSL 進行儀表 R&R 分析後獲得表中每個參數的重複性、再現性和儀表 R&R 變化值？

有很多方法可以做到這一點，下面是一種可能方法的相當簡單的示例

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

var = dt << Variability Chart(
 Y(:NPN1, :PNP1, PNP2),
 Model("Main Effect"),
 X(:SITE),
 Variability Analysis(:NPN1, "Gauge R&R Report"n(1)),
 Variability Analysis(:PNP1, "Gauge R&R Report"n(1)) 
);

如果您有片面的規範，請務必檢查這些變量之前和之後的變量是否正常工作。 某些JMP 版本存在一個錯誤，如果您在執行之間的某個位置有單向限制，並且您依賴規格限制列屬性，則該錯誤確實使用了錯誤的限制（這可能在JMP17 中得到修復，不確定。 我現在使用不同的方法）。

回复：如何通過 JSL 進行儀表 R&R 分析後獲得表中每個參數的重複性、再現性和儀表 R&R 變化值？

@jthi謝謝，每個測量參數我都有 LSL 和 USL。

 

如果我理解正確的話，您發布的內容是最初的分析部分。

我想自動化下一階段，即獲得重複性、再現性和儀表 R&R 變化值（用紅色箭頭標記）對於新數據表中的每個測量值。

 

在我之前鏈接的視頻中，這是在視頻 1.38 分鐘後手動完成的。

如何通過JSL自動化這部分？

 

 

回复：如何通過 JSL 進行儀表 R&R 分析後獲得表中每個參數的重複性、再現性和儀表 R&R 變化值？

右鍵單擊 Gauge R&R 表，然後使用“創建組合數據表”從中創建一個表

從生成的表的表腳本中，您可以了解如何自動化它（獲取對錶框的引用並使用“創建組合數據表”消息）

開始只用幾列進行自動化，當你開始工作時，擴展到更多列。

回复：如何通過 JSL 進行儀表 R&R 分析後獲得表中每個參數的重複性、再現性和儀表 R&R 變化值？

@jthi在此代碼中，如何正確循環數據表中的所有測量變量（|100）？

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

var = dt << Variability Chart(
 Y(:NPN1, :PNP1, PNP2),
 Model("Main Effect"),
 X(:SITE),
 Variability Analysis(:NPN1, "Gauge R&R Report"n(1)),
 Variability Analysis(:PNP1, "Gauge R&R Report"n(1)) 
);

回复：如何通過 JSL 進行儀表 R&R 分析後獲得表中每個參數的重複性、再現性和儀表 R&R 變化值？

建立感興趣的列列表，然後發送儀表 R&R 報告消息

 

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

var = dt << Variability Chart(
 Y(:NPN1, :PNP1),
 Model("Main Effect"),
 X(:SITE)
);

var << "Gauge R&R Report"n(1);

回复：如何通過 JSL 進行儀表 R&R 分析後獲得表中每個參數的重複性、再現性和儀表 R&R 變化值？

@jthi謝謝，該腳本部分完成了我需要做的事情，但需要我在“輸入/驗證儀表 R&R 規範”窗口中按“確定”以進行每個參數的儀表 R&R 分析（我使用的是 JMP 16.2）。 我不想對我的 ~100 個參數執行此操作。如何自動化量規 R&R 分析/按 OK 步驟？

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

var = dt << Variability Chart(
 Y(:NPN1, :PNP1),
 Model("Main Effect"),
 X(:SITE)
);

var << "Gauge R&R Report"n(1);

 

回覆：如何透過 JSL 進行儀表 R&R 分析後獲得表中每個參數的重複性、再現性和儀表 R&R 變化值？

@jthi謝謝。 當我等待了解如何為每個測量參數自動執行此“確定”步驟時

 

如果我在 JM 16.2.0 中嘗試上面的以下操作，

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

var = dt << Variability Chart(
 Y(:NPN1, :PNP1, PNP2),
 Model("Main Effect"),
 X(:SITE),
 Variability Analysis(:NPN1, "Gauge R&R Report"n(1)),
 Variability Analysis(:PNP1, "Gauge R&R Report"n(1)) 
);
Wait (0);

rpt ["Variability Gauge", "Variability Gauge Analysis for PNP1", "Gauge R&R", Table Box[1]] <<MAKE combined="" data="https://community.jmp.com/" table=""></MAKE>

我收到一個錯誤

Name Unresolved: rpt in access or evaluation of 'rpt' , rpt/*###*/

最有可能的是因為我還沒有定義rpt。 以下從 JMP 複製的腳本也會引發錯誤

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

platform = dt << Variability Chart(
 Y(:NPN1, :PNP1, PNP2),
 Model("Main Effect"),
 X(:SITE),
 Variability Analysis(:NPN1, "Gauge R&R Report"n(1)),
 Variability Analysis(:PNP1, "Gauge R&R Report"n(1)) 
);
Wait (0);

//rpt ["Variability Gauge", "Variability Gauge Analysis for PNP1", "Gauge R&R", Table Box[1]] <<MAKE combined="" data="https://community.jmp.com/" table=""></MAKE>

我需要一些幫助才能繼續下去。

 

回覆：如何透過 JSL 進行儀表 R&R 分析後獲得表中每個參數的重複性、再現性和儀表 R&R 變化值？

如果您無法獲得量具結果，我不會擔心獲得表格框（稍後再擔心表格框）。 我不記得我是如何在早期的JMP 版本（JMP14、15 和16）中執行量具腳本的，但很可能我是一一執行的，因為如果您只對結果而不是繪圖感興趣，那麼速度可能會更快。 這似乎在 JMP16.2 中有效

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

var = dt << Variability Chart(
 Y(:NPN1, :PNP1),
 Model("Main Effect"),
 X(:SITE),
 Historical Sigma(0)
);
var << "Gauge R&R"n();

回覆：如何透過 JSL 進行儀表 R&R 分析後獲得表中每個參數的重複性、再現性和儀表 R&R 變化值？

@jthi謝謝。 該腳本適用於我的 JMP 16.2，並且不會要求我驗證儀表規格。 查看 :NPN1 的“製作組合資料表”腳本，而 for 我看到

Names Default To Here( 1 );
platform = Data Table( "Semiconductor Capability" ) <<
Variability Chart(
 Y( :NPN1 ),
 X( :SITE ),
 Model( "Main Effect" ),
 Historical Sigma( 0 ),
 "Gauge R&R"n( 6, 27.48 ),
 "Gauge R&R Report"n( 1 )
);
Wait( 0 );
Report( platform[1] )[Outline Box( "Gauge R&R" )][Table Box( 1 )] <<
Make Combined Data Table;
Report( platform[1] ) << Close Window;

而對於 :PNP1，我明白了

Names Default To Here( 1 );
platform = Data Table( "Semiconductor Capability" ) <<
Variability Chart(
 Y( :PNP1 ),
 X( :SITE ),
 Model( "Main Effect" ),
 Historical Sigma( 0 ),
 "Gauge R&R"n( 6, 265.26 ),
 "Gauge R&R Report"n( 1 )
);
Wait( 0 );
Report( platform[1] )[Outline Box( "Gauge R&R" )][Table Box( 1 )] <<
Make Combined Data Table;
Report( platform[1] ) << Close Window;

現在的問題是如何循環遍歷運行 GR&R 的所有參數並連接為每個參數生成的「組合資料表」。

顯然，這一行的規格限制

"Gauge R&R"n( _LSL_, _USL_ )

每個參數都需要來自資料表。

我從來沒有這樣做過，但我會嘗試一下，但一些方向會非常有用。

回覆：如何透過 JSL 進行儀表 R&R 分析後獲得表中每個參數的重複性、再現性和儀表 R&R 變化值？

我不確定您目前正在談論哪些腳本。 這應該使用列屬性的規格限制（除了我之前提到的可能存在於 JMP16 中的錯誤）

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

var = dt << Variability Chart(
 Y(:NPN1, :PNP1),
 Model("Main Effect"),
 X(:SITE),
 Historical Sigma(0)
);
var << "Gauge R&R"n();

If(N Items(var) > 1,
 result_ref = Report(var[1])[OutlineBox("Gauge R&R")];
,
 result_ref = Report(var)[OutlineBox("Gauge R&R")];
);

dt_result = result_ref[TableBox(1)] << Make Combined Data Table;

show(Column(dt, "NPN1") << Get Property("Spec Limits"));
show(Column(dt, "PNP1") << Get Property("Spec Limits"));