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JSL을 통한 게이지 R&R 분석 후 테이블의 각 매개변수에 대한 반복성, 재현성 및 게이지 R&R 변형 값을 얻는 방법은 무엇입니까?

저는 여러(~100개) 측정된 매개변수에 대해 게이지 R&R 분석을 수행하고 있습니다. 부품, 작업자 ID/검사기 및 반복이 포함된 내 데이터 테이블에는 측정된 매개변수 열에 저장된 사양 제한 값이 있습니다.

 

이 비디오에서와 같이 1분 38초의 시간에 표시된 대로 Gauge R&R 분석 프로세스를 대화식으로 수행하는 것은 매개변수가 ~100일 때 비효율적이고 제한적입니다.

https://community.jmp.com/t5/Statistical-Thinking-for/Conducting-a-Gauge-R-amp-R-Analytic/ta-p/271895https://community.jmp.com/t5/Statistical- 생각하기/게이지 수행하기-R-amp-R-분석/ta-p/271895

 

프로세스를 자동화하고 데이터 테이블에서 반복성, 재현성 및 게이지 R&R 변동 값을 얻고 싶습니다.

JSL을 통해 이를 수행하는 방법은 무엇입니까?

윈도우Re: JSL을 통한 게이지 R&R 분석 후 테이블의 각 매개변수에 대한 반복성, 재현성 및 게이지 R&R 변형 값을 얻는 방법은 무엇입니까?

이 작업을 수행하는 방법에는 여러 가지가 있습니다. 아래는 가능한 한 가지 방법에 대한 매우 간단한 예입니다.

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

var = dt << Variability Chart(
 Y(:NPN1, :PNP1, PNP2),
 Model("Main Effect"),
 X(:SITE),
 Variability Analysis(:NPN1, "Gauge R&R Report"n(1)),
 Variability Analysis(:PNP1, "Gauge R&R Report"n(1)) 
);

일방적인 사양이 있는 경우 해당 사양 전후의 변수가 올바르게 작동하는지 확인하십시오. 일부 JMP 버전에는 실행 사이에 일방적인 제한이 있고 사양 제한 열 속성에 의존하는 경우 잘못된 제한을 사용하는 버그가 있었습니다(JMP17에서는 수정될 수 있지만 확실하지 않습니다. 요즘은 다른 방법을 사용합니다.)

Re: JSL을 통한 게이지 R&R 분석 후 테이블의 각 매개변수에 대한 반복성, 재현성 및 게이지 R&R 변형 값을 얻는 방법은 무엇입니까?

@jthi 감사합니다. 각 측정 매개변수에 대해 LSL과 USL이 모두 있습니다.

 

귀하가 게시한 내용은 제가 올바르게 이해했다면 초기의 분석 부분.

나는 다음 단계를 자동화하고 싶습니다. 반복성, 재현성 및 게이지 R&R 변동 값(빨간색 화살표로 표시) 새로운 데이터 테이블에서 측정된 각각에 대해 .

 

이전에 링크한 비디오에서는 이 작업이 비디오의 1분 38초 후에 수동으로 수행되었습니다.

JSL을 통해 이 부분을 자동화하는 방법은 무엇입니까?

 

 

Re: JSL을 통한 게이지 R&R 분석 후 테이블의 각 매개변수에 대한 반복성, 재현성 및 게이지 R&R 변형 값을 얻는 방법은 무엇입니까?

Gauge R&R 테이블을 마우스 오른쪽 버튼으로 클릭하고 Make Combined Data Table을 사용하여 테이블을 생성합니다.

결과 테이블의 테이블 스크립트에서 이를 자동화하는 방법에 대한 아이디어를 얻을 수 있습니다(테이블 상자에 대한 참조를 얻고 결합된 데이터 테이블 만들기 메시지 사용).

몇 개의 열만 사용하여 자동화를 시작하고 작동하게 되면 더 많은 열로 확장하세요.

Re: JSL을 통한 게이지 R&R 분석 후 테이블의 각 매개변수에 대한 반복성, 재현성 및 게이지 R&R 변형 값을 얻는 방법은 무엇입니까?

@jthi 이 코드에서 내 데이터 테이블의 모든 측정 변수(|100)를 올바르게 반복하는 방법은 무엇입니까?

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

var = dt << Variability Chart(
 Y(:NPN1, :PNP1, PNP2),
 Model("Main Effect"),
 X(:SITE),
 Variability Analysis(:NPN1, "Gauge R&R Report"n(1)),
 Variability Analysis(:PNP1, "Gauge R&R Report"n(1)) 
);

Re: JSL을 통한 게이지 R&R 분석 후 테이블의 각 매개변수에 대한 반복성, 재현성 및 게이지 R&R 변형 값을 얻는 방법은 무엇입니까?

관심 있는 컬럼 목록을 작성한 후 Gauge R&R Report 메시지를 보냅니다.

 

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

var = dt << Variability Chart(
 Y(:NPN1, :PNP1),
 Model("Main Effect"),
 X(:SITE)
);

var << "Gauge R&R Report"n(1);

Re: JSL을 통한 게이지 R&R 분석 후 테이블의 각 매개변수에 대한 반복성, 재현성 및 게이지 R&R 변형 값을 얻는 방법은 무엇입니까?

@jthi 감사합니다. 이 스크립트는 제가 해야 할 일을 부분적으로 수행하지만 "게이지 R&R 사양 입력/확인" 창에서 각 매개변수의 게이지 R&R 분석(JMP 16.2 사용 중)에 대해 확인을 눌러야 합니다. 나는 ~100개의 매개변수에 대해 이 작업을 수행하고 싶지 않습니다.게이지 R&R 분석/프레스 OK 단계를 자동화하는 방법은 무엇입니까?

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

var = dt << Variability Chart(
 Y(:NPN1, :PNP1),
 Model("Main Effect"),
 X(:SITE)
);

var << "Gauge R&R Report"n(1);

 

Re: JSL을 통한 게이지 R&R 분석 후 테이블의 각 매개변수에 대한 반복성, 재현성 및 게이지 R&R 변형 값을 얻는 방법은 무엇입니까?

@jthi 감사해요. 측정된 각 매개변수에 대해 이 "OK" 단계를 자동화하는 방법을 이해하기를 기다리는 동안

 

JM 16.2.0에서 위에서 다음을 시도하면,

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

var = dt << Variability Chart(
 Y(:NPN1, :PNP1, PNP2),
 Model("Main Effect"),
 X(:SITE),
 Variability Analysis(:NPN1, "Gauge R&R Report"n(1)),
 Variability Analysis(:PNP1, "Gauge R&R Report"n(1)) 
);
Wait (0);

rpt ["Variability Gauge", "Variability Gauge Analysis for PNP1", "Gauge R&R", Table Box[1]] <<MAKE combined="" data="https://community.jmp.com/" table=""></MAKE>

오류가 발생했습니다.

Name Unresolved: rpt in access or evaluation of 'rpt' , rpt/*###*/

아마도 rpt를 정의하지 않았기 때문일 것입니다. JMP에서 복사한 스크립트를 사용하면 다음과 같은 오류가 발생합니다.

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

platform = dt << Variability Chart(
 Y(:NPN1, :PNP1, PNP2),
 Model("Main Effect"),
 X(:SITE),
 Variability Analysis(:NPN1, "Gauge R&R Report"n(1)),
 Variability Analysis(:PNP1, "Gauge R&R Report"n(1)) 
);
Wait (0);

//rpt ["Variability Gauge", "Variability Gauge Analysis for PNP1", "Gauge R&R", Table Box[1]] <<MAKE combined="" data="https://community.jmp.com/" table=""></MAKE>

계속하려면 도움이 필요합니다.

 

Re: JSL을 통한 게이지 R&R 분석 후 테이블의 각 매개변수에 대한 반복성, 재현성 및 게이지 R&R 변형 값을 얻는 방법은 무엇입니까?

게이지 결과를 얻을 수 없다면 테이블 상자를 얻는 것에 대해 걱정하지 않을 것입니다(테이블 상자에 대해서는 나중에 걱정하십시오). 이전 JMP 버전(JMP14, 15 및 16)에서 게이지 스크립팅을 어떻게 수행했는지 더 이상 기억나지 않지만, 플롯이 아닌 결과에만 관심이 있다면 더 빠르기 때문에 하나씩 수행했을 가능성이 높습니다. . 이것은 JMP16.2에서 작동하는 것 같았습니다.

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

var = dt << Variability Chart(
 Y(:NPN1, :PNP1),
 Model("Main Effect"),
 X(:SITE),
 Historical Sigma(0)
);
var << "Gauge R&R"n();

Re: JSL을 통한 게이지 R&R 분석 후 테이블의 각 매개변수에 대한 반복성, 재현성 및 게이지 R&R 변형 값을 얻는 방법은 무엇입니까?

@jthi 감사해요. 이 스크립트는 JMP 16.2에서 작동하며 게이지 사양을 확인하라는 메시지를 표시하지 않습니다. :NPN1에 대한 "결합된 데이터 테이블 만들기" 스크립트를 보면 다음과 같습니다.

Names Default To Here( 1 );
platform = Data Table( "Semiconductor Capability" ) <<
Variability Chart(
 Y( :NPN1 ),
 X( :SITE ),
 Model( "Main Effect" ),
 Historical Sigma( 0 ),
 "Gauge R&R"n( 6, 27.48 ),
 "Gauge R&R Report"n( 1 )
);
Wait( 0 );
Report( platform[1] )[Outline Box( "Gauge R&R" )][Table Box( 1 )] <<
Make Combined Data Table;
Report( platform[1] ) << Close Window;

:PNP1에 대해서는 알겠습니다.

Names Default To Here( 1 );
platform = Data Table( "Semiconductor Capability" ) <<
Variability Chart(
 Y( :PNP1 ),
 X( :SITE ),
 Model( "Main Effect" ),
 Historical Sigma( 0 ),
 "Gauge R&R"n( 6, 265.26 ),
 "Gauge R&R Report"n( 1 )
);
Wait( 0 );
Report( platform[1] )[Outline Box( "Gauge R&R" )][Table Box( 1 )] <<
Make Combined Data Table;
Report( platform[1] ) << Close Window;

이제 문제는 GR&R이 실행되는 모든 매개변수를 반복하고 각 매개변수에 대해 생성된 "결합된 데이터 테이블"을 연결하는 방법입니다.

분명히 이 라인의 사양 한계는

"Gauge R&R"n( _LSL_, _USL_ )

각 매개변수에 대한 데이터 테이블에서 가져와야 합니다.

나는 이것을 해본 적이 없지만 내 편에서 노력할 것이지만 어떤 방향은 매우 유용할 것입니다.

Re: JSL을 통한 게이지 R&R 분석 후 테이블의 각 매개변수에 대한 반복성, 재현성 및 게이지 R&R 변형 값을 얻는 방법은 무엇입니까?

현재 어떤 스크립트에 대해 이야기하고 있는지 잘 모르겠습니다. 이는 열 속성의 사양 제한을 사용해야 합니다(JMP16에 있을 수 있는 이전에 언급한 버그는 제외).

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

var = dt << Variability Chart(
 Y(:NPN1, :PNP1),
 Model("Main Effect"),
 X(:SITE),
 Historical Sigma(0)
);
var << "Gauge R&R"n();

If(N Items(var) > 1,
 result_ref = Report(var[1])[OutlineBox("Gauge R&R")];
,
 result_ref = Report(var)[OutlineBox("Gauge R&R")];
);

dt_result = result_ref[TableBox(1)] << Make Combined Data Table;

show(Column(dt, "NPN1") << Get Property("Spec Limits"));
show(Column(dt, "PNP1") << Get Property("Spec Limits"));