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Come ottenere valori di ripetibilità, riproducibilità e variazione R&R del misuratore per ciascun parametro in una tabella dopo l'analisi R&R del misuratore tramite JSL?

Sto conducendo un'analisi R&R del misuratore per diversi (~ 100) parametri misurati. La mia tabella dati con parti, ID operatore/ispettore e ripetizioni presenta valori dei limiti specifici salvati nelle colonne dei parametri misurati.

 

L'esecuzione interattiva del processo di analisi Gauge R&R come mostrato al tempo 1,38 minuti come in questo video è inefficiente e incontinente quando i parametri sono ~100.

https://community.jmp.com/t5/Statistical-Thinking-for/Conducting-a-Gauge-R-amp-R-Analysis/ta-p/271895https://community.jmp.com/t5/Statistical- Pensare per/condurre un'analisi R-amp-R/ta-p/271895

 

Vorrei automatizzare il processo e ottenere i valori di ripetibilità, riproducibilità e variazione R&R del misuratore in una tabella dati.

Come farlo tramite JSL?

finestreRi: Come ottenere valori di ripetibilità, riproducibilità e variazione R&R del misuratore per ciascun parametro in una tabella dopo l'analisi R&R del misuratore tramite JSL?

Esistono molti modi per farlo, di seguito è riportato un esempio abbastanza semplice di un modo possibile

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

var = dt << Variability Chart(
 Y(:NPN1, :PNP1, PNP2),
 Model("Main Effect"),
 X(:SITE),
 Variability Analysis(:NPN1, "Gauge R&R Report"n(1)),
 Variability Analysis(:PNP1, "Gauge R&R Report"n(1)) 
);

se hai specifiche unilaterali assicurati di controllare che le variabili prima e dopo funzionino correttamente. Si è verificato un bug in alcune versioni di JMP che utilizzavano limiti errati se avevi un lato unilaterale da qualche parte tra l'esecuzione e facevi affidamento sulla proprietà della colonna dei limiti delle specifiche (questo potrebbe essere risolto in JMP17, non ne sono sicuro. Oggi uso un metodo diverso).

Ri: Come ottenere valori di ripetibilità, riproducibilità e variazione R&R del misuratore per ciascun parametro in una tabella dopo l'analisi R&R del misuratore tramite JSL?

@jthi Grazie, ho sia LSL che USL per ciascun parametro misurato.

 

Quello che hai postato è, se ho capito bene, il iniziale parte di analisi.

Voglio automatizzare la fase successiva che sta ottenendo il file Valori di ripetibilità, riproducibilità e variazione R&R del misuratore (contrassegnati con frecce rosse) per ciascuno misurato in una nuova tabella dati .

 

Nel video che ho collegato in precedenza, questa operazione viene eseguita dopo 1,38 minuti dall'inizio del video e viene eseguita manualmente.

Come automatizzare questa parte tramite JSL?

 

 

Ri: Come ottenere valori di ripetibilità, riproducibilità e variazione R&R del misuratore per ciascun parametro in una tabella dopo l'analisi R&R del misuratore tramite JSL?

Fai clic con il pulsante destro del mouse sulla tabella Gauge R&R e crea una tabella da essa utilizzando Crea tabella dati combinata

Dallo script della tabella risultante puoi avere un'idea di come automatizzarlo (ottieni un riferimento alla casella della tabella e utilizza il messaggio Crea tabella dati combinata)

Inizia ad automatizzare con solo poche colonne e quando riesci a farlo funzionare espandilo a più colonne.

Ri: Come ottenere valori di ripetibilità, riproducibilità e variazione R&R del misuratore per ciascun parametro in una tabella dopo l'analisi R&R del misuratore tramite JSL?

@jthi In questo codice, come scorrere correttamente tutte le variabili misurate (|100) nella mia tabella dati?

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

var = dt << Variability Chart(
 Y(:NPN1, :PNP1, PNP2),
 Model("Main Effect"),
 X(:SITE),
 Variability Analysis(:NPN1, "Gauge R&R Report"n(1)),
 Variability Analysis(:PNP1, "Gauge R&R Report"n(1)) 
);

Ri: Come ottenere valori di ripetibilità, riproducibilità e variazione R&R del misuratore per ciascun parametro in una tabella dopo l'analisi R&R del misuratore tramite JSL?

Crea un elenco di colonne di interesse e quindi invia il messaggio Gauge R&R Report

 

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

var = dt << Variability Chart(
 Y(:NPN1, :PNP1),
 Model("Main Effect"),
 X(:SITE)
);

var << "Gauge R&R Report"n(1);

Ri: Come ottenere valori di ripetibilità, riproducibilità e variazione R&R del misuratore per ciascun parametro in una tabella dopo l'analisi R&R del misuratore tramite JSL?

@jthi Grazie, questo script fa in parte quello che devo fare, ma richiede che io prema OK per l'analisi R&R del misuratore di ciascun parametro (sono su JMP 16.2) nella finestra "Inserisci/Verifica specifica R&R del misuratore". Non voglio farlo per i miei ~ 100 parametri.Come automatizzare l'analisi R&R del misuratore/il passaggio premere OK?

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

var = dt << Variability Chart(
 Y(:NPN1, :PNP1),
 Model("Main Effect"),
 X(:SITE)
);

var << "Gauge R&R Report"n(1);

 

Ri: Come ottenere valori di ripetibilità, riproducibilità e variazione R&R del misuratore per ciascun parametro in una tabella dopo l'analisi R&R del misuratore tramite JSL?

@jthi Grazie. Nell'attesa di capire come automatizzare questo passaggio "OK" per ogni parametro misurato

 

Se provo quanto segue dall'alto nel mio JM 16.2.0,

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

var = dt << Variability Chart(
 Y(:NPN1, :PNP1, PNP2),
 Model("Main Effect"),
 X(:SITE),
 Variability Analysis(:NPN1, "Gauge R&R Report"n(1)),
 Variability Analysis(:PNP1, "Gauge R&R Report"n(1)) 
);
Wait (0);

rpt ["Variability Gauge", "Variability Gauge Analysis for PNP1", "Gauge R&R", Table Box[1]] <<MAKE combined="" data="https://community.jmp.com/" table=""></MAKE>

Ottengo un errore

Name Unresolved: rpt in access or evaluation of 'rpt' , rpt/*###*/

molto probabilmente perché non ho definito rpt. Anche quanto segue con lo script copiato da JMP genera un errore

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

platform = dt << Variability Chart(
 Y(:NPN1, :PNP1, PNP2),
 Model("Main Effect"),
 X(:SITE),
 Variability Analysis(:NPN1, "Gauge R&R Report"n(1)),
 Variability Analysis(:PNP1, "Gauge R&R Report"n(1)) 
);
Wait (0);

//rpt ["Variability Gauge", "Variability Gauge Analysis for PNP1", "Gauge R&R", Table Box[1]] <<MAKE combined="" data="https://community.jmp.com/" table=""></MAKE>

Ho bisogno di aiuto per procedere.

 

Ri: Come ottenere valori di ripetibilità, riproducibilità e variazione R&R del misuratore per ciascun parametro in una tabella dopo l'analisi R&R del misuratore tramite JSL?

Non mi preoccuperei di ottenere la casella della tabella se non riesci a ottenere i risultati del misuratore (preoccuparti della casella della tabella in seguito). Non ricordo più come eseguivo gli script Gage nelle versioni precedenti di JMP (JMP14, 15 e 16), ma molto probabilmente li ho fatti uno per uno perché molto probabilmente è più veloce se sei interessato solo ai risultati e non ai grafici . Sembrava funzionare in JMP16.2

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

var = dt << Variability Chart(
 Y(:NPN1, :PNP1),
 Model("Main Effect"),
 X(:SITE),
 Historical Sigma(0)
);
var << "Gauge R&R"n();

Ri: Come ottenere valori di ripetibilità, riproducibilità e variazione R&R del misuratore per ciascun parametro in una tabella dopo l'analisi R&R del misuratore tramite JSL?

@jthi Grazie. Questo script funziona nel mio JMP 16.2 e non mi chiede di verificare le specifiche di Gauge. Guardando lo script per "Crea tabella dati combinata" per :NPN1, mentre per vedo

Names Default To Here( 1 );
platform = Data Table( "Semiconductor Capability" ) <<
Variability Chart(
 Y( :NPN1 ),
 X( :SITE ),
 Model( "Main Effect" ),
 Historical Sigma( 0 ),
 "Gauge R&R"n( 6, 27.48 ),
 "Gauge R&R Report"n( 1 )
);
Wait( 0 );
Report( platform[1] )[Outline Box( "Gauge R&R" )][Table Box( 1 )] <<
Make Combined Data Table;
Report( platform[1] ) << Close Window;

mentre per :PNP1, capisco

Names Default To Here( 1 );
platform = Data Table( "Semiconductor Capability" ) <<
Variability Chart(
 Y( :PNP1 ),
 X( :SITE ),
 Model( "Main Effect" ),
 Historical Sigma( 0 ),
 "Gauge R&R"n( 6, 265.26 ),
 "Gauge R&R Report"n( 1 )
);
Wait( 0 );
Report( platform[1] )[Outline Box( "Gauge R&R" )][Table Box( 1 )] <<
Make Combined Data Table;
Report( platform[1] ) << Close Window;

La domanda ora è come scorrere tutti i parametri per i quali viene eseguito GR&R e concatenare la "tabella dati combinata" generata per ciascun parametro.

Chiaramente, i limiti delle specifiche in questa linea

"Gauge R&R"n( _LSL_, _USL_ )

devono provenire dalla tabella dati per ciascun parametro.

Non l'ho mai fatto, ma ci proverò dalla mia parte, ma qualche indicazione sarebbe molto utile.

Ri: Come ottenere valori di ripetibilità, riproducibilità e variazione R&R del misuratore per ciascun parametro in una tabella dopo l'analisi R&R del misuratore tramite JSL?

Non sono sicuro di quali script stai parlando attualmente. Questo dovrebbe utilizzare i limiti delle specifiche dalle proprietà della colonna (ad eccezione del possibile bug menzionato in precedenza che potrebbe essere presente in JMP16)

Names Default To Here(1);

dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

var = dt << Variability Chart(
 Y(:NPN1, :PNP1),
 Model("Main Effect"),
 X(:SITE),
 Historical Sigma(0)
);
var << "Gauge R&R"n();

If(N Items(var) > 1,
 result_ref = Report(var[1])[OutlineBox("Gauge R&R")];
,
 result_ref = Report(var)[OutlineBox("Gauge R&R")];
);

dt_result = result_ref[TableBox(1)] << Make Combined Data Table;

show(Column(dt, "NPN1") << Get Property("Spec Limits"));
show(Column(dt, "PNP1") << Get Property("Spec Limits"));