Gianpaolo Polsinelli
INGENIERO SUPERIOR EN MINERÍA DE DATOS
Abstracto :
En un Silicon-Fab se recopilan varias medidas eléctricas y funcionales para cada oblea de silicio.
Por lo tanto, es muy importante identificar en una gran cantidad de datos qué variables realmente modulan la oblea y producen el indicador clave de rendimiento más importante.Por lo general, se usa un gráfico de dispersión con un ajuste de regresión lineal para eso.
De todos modos, esta técnica funciona bien solo si las distribuciones son normales, en ausencia de valores atípicos y datos ruidosos. Todos esos factores pueden oscurecer la verdadera relación entre la pérdida de rendimiento y los problemas en línea.
