다양한 조건에 따른 여러 곡선이 포함된 XPS 데이터가 있습니다. 비교할 수 있도록 정규화하고 싶습니다. 예시로 이미지를 첨부합니다. JMP를 사용해 비슷한 일을 할 수 있나요?
JMP 버전 16.0
