Bonjour à tous,
Je souhaite effectuer une analyse en composantes de variance pour caractériser la robustesse d'un procédé de lyophilisation.
Voici le fond :
- J'ai effectué trois lots de lyophilisation avec trois paramètres de cycle différents.
- J'ai intentionnellement placé des flacons de produit dans des emplacements définis sur l'étagère pour chaque lot.
- À la fin de chaque lot, j'ai prélevé 10 échantillons de chacun de ces emplacements définis et je les ai analysés. Chaque échantillon des 10 échantillons est un échantillon répété.
- Je veux comprendre la variation potentielle des résultats analytiques en raison du lot de lyophilisation et de l'emplacement de l'étagère
Compte tenu de ces informations, est-il approprié d'effectuer une analyse des composantes de la variance ou existe-t-il d'autres méthodes statistiques qui seraient plus appropriées, par exemple une ANOVA à un facteur ? Comment cela peut-il être fait dans JMP ?
Merci d'avance.
Je ne suis pas une PME pour votre situation, mais j'ai quelques réflexions :
1. La situation que vous décrivez semble être une composante imbriquée/systématique de l'étude de la variation.Les couches hiérarchiques sont :
Lot (bien que cela semble être manipulé)
Étagère (Emplacements systématiques, bien que vous ne précisiez pas combien)
Échantillons (La variation du système de mesure est confondue avec le composant de l'échantillon)
2. Dans quelle mesure êtes-vous confiant dans le système de mesure ? Pourquoi avez-vous besoin de 10 échantillons ? Vous biaisez quelque peu cette couche.
3. La robustesse est la mesure de la cohérence de la processus de lyophilisation est plus de bruit changeant.Je soupçonnerais qu'en 3 lots, vous avez exposé tous les effets de bruit possibles.Vous ne pourrez pas évaluer la cohérence de la variation d'un lot à l'autre.
4. Pour l'analyse, vous pouvez utiliser la méthode de la carte de contrôle ou la méthode ANOVA.Je commencerais par des diagrammes de variabilité (assurez-vous que les types de données sont nominaux) et laissez JMP calculer les composants quantitatifs.
Pour ajouter un peu à @statman Je vous conseille de jeter un coup d'œil à ce webinaire à la demande organisé par mon ancien (je suis maintenant à la retraite) collègue JMP @JerryFish .Analyse des systèmes de mesure Jerry montre la méthode Wheeler EMP qui est essentiellement la méthode de la carte de contrôle mentionnée par @statman
