Themen, die in dieser zweistündigen Sitzung zur statistischen Prozesskontrolle behandelt werden
- MSA
- Kontrollkarte
- Fähigkeitsanalyse
- Mehrere Variablen (Prozessscreening, multivariate Kontrollkarte)
- Spezifische Situationen (nicht normale Daten)
Teil 1: Messsystemanalyse
Vor jeder SPC-Analyse und -Überwachung ist es wichtig, die Wiederholbarkeit und Reproduzierbarkeit durch eine Untersuchung der Messsysteme zu validieren.
Teil 2: Kontrolldiagramm und Fähigkeitsanalyse
Um den Prozess zu kontrollieren und über Abweichungen informiert zu bleiben, ist die Regelkarte das empfohlene statistische Hilfsmittel. Mit dem Control Chart Builder können diese Diagramme mit nur wenigen Klicks erstellt werden. In diesem Abschnitt wird auch das Thema der Fähigkeitsanalyse behandelt, um die Frage zu beantworten: Ist mein System fähig? Das heißt, ist es in der Lage, innerhalb meiner Spezifikationsgrenzen zu bleiben?
Teil 3: Mehrere Datensituationen
Immer mehr Sensoren bedeuten immer mehr Daten und die Möglichkeit, Prozesse zu überwachen. Dies kann zu einer Komplexität der Überwachung führen. Verschiedene JMP-Tools, die in diesem Abschnitt vorgestellt werden, können hilfreich sein.
Teil 4: Nicht normalverteilte Daten
Was passiert, wenn meine Daten keiner Normalverteilung folgen? Soll ich es durch Anwenden einer logarithmischen oder anderen Funktion umwandeln? Oder sollte ich die Quantilinformationen extrahieren, um meine Fähigkeitsanalyse zu definieren? NEIN! Mit JMP ist alles viel einfacher
