视频于 2024 年 9 月更新。观众问答开始于约时间 28:39。
了解如何：
克拉克·莱德贝特 (Clark Ledbetter) @Clark_Ledbetter 、克里斯蒂安·斯托普 (Christian Stopp ) @jmpstopper和杰森·威金斯 (Jason Wiggins) @Jason_Wiggins在现场网络研讨会上回答了问题：
问：可以使用 EMP 进行破坏性试验吗？
答：不直接使用 EMP。我们确实有一段关于在需要进行破坏性测试的情况下使用 MSA 的视频。如果您考虑进行破坏性测试，您必须使用一些技巧来获得重复测量值，如果我损坏了某件物品，我如何获得第二次测量值？另外，我需要重复测量才能获得可重复性，如果某件物品损坏了，您就无法获得这些测量值。
破坏性测量系统会随着您执行测量系统的时间推移而发生变化，就像时间上的转变一样。您可以使用 JMP 函数数据探索器来处理这个问题。您可以探索并使用函数主成分来获得重复测量值。我们可以在明年的《精通 JMP》中研究如何解决这个问题。
问：如果您从头开始，您应该使用 EMP 还是 Gauge R 和 R？
答：如果您有选择自由，我会选择 EMP。但是，对于汽车行业，根据 AIAG 1指南，如果您的测量系统变异小于过程变异的 10%，那么这是可以接受的。AIAG 标准文件非常有用，其中包含大量有关测量研究的智慧，它们与 Gauge R&R 有关。
问：如果我没记错的话，%RR 是基于测量系统相对于规格限值 (USL-LSL) 所允许的最大值的变化量。
答：是的。如果有必要进行改进，那么改进测量过程或放宽规格限制就是关键。
问：什么时候合适，或者什么时候您希望不带偏见地看待 ICC？
答：如果您理解偏见（例如操作员根据其身高而引起的偏见），并且主观上认为缩小偏见的成本是值得的。
此前的网络研讨会就此主题回答过以下问题：
问：你说的‘大块数据’是什么意思？
答：想象一下描述正态分布的直方图。“块状”直方图可能只有 5 或 6 个箱体来描述分布。“非块状”数据可能有 15 或 20 个条形（箱体）来描述分布，因此它要平滑得多。
问：平均图中的某个点位于 ULC/LCL 内是否重要？
答：不，这只意味着特定零件接近零件的总体平均值。您只需要 UCL/LCL 范围之外的大多数零件。
问：EMP 方法与变异性图表不同吗？
答：使用仪表变异性图表，您基本上是在查看相同的设置。因此，您可以使用该平台，它会生成仪表变异性输出。这将非常类似于变异性图表，只需显示数据，然后线穿过中间即可连接均值。图形是相似的。在这种情况下，您得到的是控制限值，以及推断出我的部分是否在控制限值之外的能力。
问：如果有更多的因素怎么办？
答：您可以添加更多因子（如多个仪表、多个工厂等），并可将它们声明为交叉或嵌套因子。这在设置中处理（ 请参阅 JMP 中测量系统的 DOE ），然后进行与 Jason 刚才所做的类似分析。
问：在医疗器械行业，FDA 已警告称不允许四舍五入，否则将被视为伪造数据。现在的问题是，如果我们不进行四舍五入，会不会有问题？
答：在受控行业中进行任何分析的方式都是特定于该行业的，因此遵循其指导方针至关重要。你必须辨别你能做什么和你应该做什么，
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