如何(我可以)使用預測分析器來設置規格限制和測試良率增強?我有一個數據集,其中包含 10 個零件測量參數(約 5000 個相同構造的零件,零件 ID 是行)。 某些參數 Cpks 低於 1.33(Cp 可能較低,也可能不較低)。 從最初的數據分析來看,限制設置不正確。
使用預測分析器,我想手動微調 LSL 和/或 USL,將 Cpk 提高到 > 1.33,我預計這也將提高產量。
我對預測分析器的經驗很少,因此需要一些關於如何在我的案例中使用它的指導(如果可以使用的話)。
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