回复：如何（我可以）使用预测分析器来设置规格限制和测试良率增强？这个建议与您的问题没有直接关系...但是如果您有权访问原始数据，您可以检查交互式能力图是否有用
Names Default To Here(1);
dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj = Process Capability(Process Variables(:PNP1), Individual Detail Reports(1));
obj << {:PNP1 << Process Capability Analysis(Interactive Capability Plot(1))};
此外，流程能力平台能力箱线图也很有帮助（整个平台也可以流程能力 (jmp.com) ）
回复：如何（我可以）使用预测分析器来设置规格限制和测试良率增强？@jthi谢谢。 我可以访问原始数据，但 Cpks 是在使用单独的 JMP 脚本过滤异常值（针对每个参数数据）后计算的（我无法轻松访问，因此不知道其中使用了哪种异常值过滤方案）。
JMP 中是否有一个简单/推荐的异常值过滤器配方，我可以在使用您的建议之前对原始数据使用它，以便我至少与已获得的 Cpks 紧密一致？
回复：如何（我可以）使用预测分析器来设置规格限制和测试良率增强？你可以看看探索异常值平台
还有不错的博客文章系列异常值第 4 集：使用折刀距离检测异常值
回复：如何（我可以）使用预测分析器来设置规格限制和测试良率增强？@jthi交互功能似乎提供了通过使用整体 sigma 更改限制来调整过程性能 Pp、Ppk 的能力。 这对于长期过程变化分析非常有用。 我需要了解过程能力 Cp、Cpk 如何受到规格限制的影响。
除非我误解了某些内容，否则以下两条对我来说似乎是更好的路线。
- https://community.jmp.com/t5/JMP-Add-Ins/Capability-Analysis-JMP-Add-In/ta-p/22798
- https://community.jmp.com/t5/Discussions/Find-new-spec-limits-by- adjustment-the-CpK-value/mp/571796/highlight/true#M78139
第一个似乎在 JMP 16 上对我不起作用，第二个似乎涉及手动步骤（我将看到 II 可以在 JSL 中对此进行编码）。
JMP 16（我在 16.2）中是否已经内置了一些东西，允许我通过更改 LSL 或 USL 或两者来探索 Cpk 变化？
回复：如何（我可以）使用预测分析器来设置规格限制和测试良率增强？如果我理解正确的话，您有计算 Cpk 所需的内容，您可以创建 LSL、USL 列，然后创建公式列来计算 Cpk？ 您还可以为此编写交互式解决方案的脚本，但如果您已经拥有 Cpk 所需的少量统计数据，您甚至可以使用 Excel，它更适合像这样需要用户输入的简单计算（除非您在 JMP 中编写脚本）。
如何（或者我可以）使用预测分析器来设置规格限制和测试良率增强？我有一个数据集，其中包含 10 个零件测量参数的平均值、中位数、西格玛、LSL（规格下限）、USL（规格上限）、Cp、Cpk 和参数良率损失 [%] 列（约 5000 个相同构建的零件，零件 ID 为行）。 某些参数 Cpks 低于 1.33（可能有也可能没有低 Cp）。 从最初的数据分析来看，限制设置不正确。
使用预测刻画器，我想手动微调 LSL 和/或 USL，将 Cpk 提高到 > 1.33，我预计这也会减少每个参数的良率损失。
我对预测分析器的经验很少，因此需要一些关于如何在我的案例中使用它的指导（如果可以使用的话）。
我正在考虑在分析器的 x 轴上分别设置 LSL 和 USL 旋钮（我可以更改），在 y 轴上设置每个参数的 Cpk（也许每个参数的辅助 y 轴上设置参数产量）。
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