Ri: Come (o posso) utilizzare il profiler di previsione per impostare i limiti delle specifiche e testare il miglioramento del rendimento?Questo suggerimento non è correlato direttamente alla tua domanda ... ma se hai accesso ai dati grezzi, puoi verificare se Interactive Capability Plot sarebbe utile
Names Default To Here(1);
dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj = Process Capability(Process Variables(:PNP1), Individual Detail Reports(1));
obj << {:PNP1 << Process Capability Analysis(Interactive Capability Plot(1))};
Anche le piattaforme Capability Process Capability Box Plot possono essere utili (così come l'intera piattaforma Capacità di processo (jmp.com) )
Ri: Come (o posso) utilizzare il profiler di previsione per impostare i limiti delle specifiche e testare il miglioramento del rendimento?@jthi Grazie. Ho accesso ai dati grezzi ma i Cpks sono stati calcolati dopo aver filtrato i valori anomali (per ogni dato di parametro) utilizzando uno script JMP separato (non facilmente accessibile per me quindi non so quale schema di filtro anomalo sia stato utilizzato in esso).
Esiste una ricetta di filtro anomalo semplice/consigliata in JMP che posso utilizzare sui dati grezzi prima di utilizzare il tuo suggerimento in modo da essere almeno strettamente allineato ai Cpks già ottenuti?
Ri: Come (o posso) utilizzare il profiler di previsione per impostare i limiti delle specifiche e testare il miglioramento del rendimento?Potresti dare un'occhiata Esplora la piattaforma Outliers
C'è anche una buona serie di post sul blog Outlier Episodio 4: Rilevamento degli outlier utilizzando la distanza del coltello a serramanico
Ri: Come (o posso) utilizzare il profiler di previsione per impostare i limiti delle specifiche e testare il miglioramento del rendimento?@jthi La capacità interattiva sembra fornire la possibilità di modificare le prestazioni del processo Pp, Ppk modificando i limiti utilizzando il sigma complessivo. Ciò è utile per l'analisi delle variazioni di processo a lungo termine. Devo capire in che modo la capacità di processo Cp, Cpk è influenzata dai limiti delle specifiche.
I due seguenti sembrano essere un percorso migliore per me a meno che non abbia frainteso qualcosa.
- https://community.jmp.com/t5/JMP-Add-Ins/Capability-Analysis-JMP-Add-In/ta-p/22798
- https://community.jmp.com/t5/Discussions/Find-new-spec-limits-by-adjusting-the-CpK-value/mp/571796/highlight/true#M78139
Il pugno non sembra funzionare per me su JMP 16 e il secondo sembra comportare passaggi manuali (vedrò che posso codificarlo in JSL).
C'è già qualcosa di integrato in JMP 16 (sono su 16.2) che mi consente di esplorare la variazione Cpk cambiando LSL o USL o entrambi?
Ri: Come (o posso) utilizzare il profiler di previsione per impostare i limiti delle specifiche e testare il miglioramento del rendimento?Se ho capito bene, hai quello che ti serve per calcolare Cpk potresti creare colonne per LSL, USL e poi colonne formula per calcolare Cpk? Potresti anche scrivere una soluzione interattiva per questo, ma se hai già le poche statistiche necessarie per Cpk potresti anche usare Excel che può essere migliore per calcoli semplici come questo che richiedono l'input dell'utente (a meno che non lo script in JMP).
Come (o posso) utilizzare il profiler di previsione per impostare i limiti delle specifiche e testare il miglioramento del rendimento?Ho un set di dati con colonne di media, mediana, sigma, LSL (limite inferiore delle specifiche), USL (limite superiore delle specifiche), Cp, Cpk e Perdita di resa dei parametri [%] per 10 parametri misurati per le parti (~ 5000 parti costruite in modo identico, gli ID delle parti sono righe). Alcuni parametri Cpk sono inferiori a 1,33 (possono o meno avere Cp bassi). Dalla prima analisi dei dati risulta che i limiti non sono impostati correttamente.
Utilizzando il profiler di previsione, vorrei spingere manualmente l'LSL e/o l'USL per aumentare il Cpk a> 1,33 che mi aspetto ridurrà anche la perdita di rendimento per ciascun parametro.
Ho pochissima esperienza con il profiler di previsione, quindi ho bisogno di una guida su come usarlo per il mio caso, se potesse essere usato.
Sto pensando di avere le manopole LSL e USL (che posso modificare) sull'asse x del profiler separatamente e Cpk di ciascun parametro sull'asse y (e forse la resa del parametro su un asse y secondario per ogni parametro).
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